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        AFM-SEM原子力掃描電鏡一體機(jī)
        AFM-SEM原子力掃描電鏡一體機(jī)

        參考價(jià)格

        面議

        型號(hào)

        AFM-in-Phenom XL

        品牌

        飛納

        產(chǎn)地

        荷蘭

        樣本

        暫無
        復(fù)納科學(xué)儀器(上海)有限公司

        金牌會(huì)員

        |

        第8年

        |

        代理商

        工商已核實(shí)

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        • 電子光學(xué)放大:

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        · 設(shè)備掃描范圍(開環(huán)):100μm×100μm×20μm

        · 設(shè)備掃描范圍(閉環(huán)):80μm×80μm×16μm

        · 分辨率:0.2nm×0.2nm×0.04nm

        · **樣品尺寸:21mm×11mm×8mm

        · **樣品重量:100g

        · 成像模式:表面形貌和粗糙度、CAFM、KPFM、FMM、PFM、EFM、F-z curves、I-V curves等

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