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        賽默飛(原FEI)透射電鏡 Talos F200X S/TEM
        賽默飛(原FEI)透射電鏡 Talos F200X S/TEM

        參考價(jià)格

        面議

        型號(hào)

        Talos F200X S/TEM

        品牌

        賽默飛

        產(chǎn)地

        捷克

        樣本

        暫無(wú)
        北京歐波同光學(xué)技術(shù)有限公司

        金牌會(huì)員

        |

        第7年

        |

        代理商

        工商已核實(shí)

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        • 探測(cè)器:

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        • 電子槍:

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        • 電子光學(xué)放大:

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        • 光學(xué)放大:

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          ≤ 136 eV Mn-Kα @10 kcps(輸出)
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        Thermo ScientificTM TalosTM F200X S/TEM 提供*快速、*精確的納米材料多尺度表征,配備多種創(chuàng)新功能以提高效率、精度與易用性,是學(xué)術(shù)、政府和工業(yè)等領(lǐng)域進(jìn)行高級(jí)研究與分析的理想選擇。

        產(chǎn)品描述

        高分辨率成像,獲取更高質(zhì)量的數(shù)據(jù) 
        Talos F200X S/TEM 融合了出色的高分辨率 STEM 和 TEM 成像功能、行業(yè)**的能譜儀 (EDS) 信號(hào)檢測(cè)功能及基于成分面分析的三維化學(xué)表征功能。Thermo Scientific Velox TM S/TEM 控制軟件通過(guò)智能掃描引擎、基于多個(gè) STEM 探測(cè)器的多通道合并技術(shù)以及差分相位襯度 (DPC) 成像技術(shù),顯著改善了 S/TEM 成像質(zhì)量,可以更好地分析電磁結(jié)構(gòu),并實(shí)行快速、準(zhǔn)確的 EDS 數(shù)據(jù)處理和定量分析。

        X-FEG 高亮度電子槍可以在提供高達(dá)標(biāo)準(zhǔn)肖特基場(chǎng)發(fā)射電子槍五倍亮度的同時(shí)保持較小的會(huì)聚角。用戶可以獲取高信噪比以及**的 STEM、EDS 圖像分辨率和更多高分辨 TEM 應(yīng)用。X-FEG 高亮度電子槍所具有的高穩(wěn)定性及使用壽命很長(zhǎng)等特點(diǎn),使其具有更高的成像效率。


        視野更大,速度更快 

        Talos 快速 D/TEM 成像支持高分辨率以及原位動(dòng)態(tài)成像。 Thermo Scientific Ceta 16M TM 相機(jī)的視場(chǎng)范圍更大,圖像采集分辨率可高達(dá)每秒 25 幀,同時(shí),壓電樣品臺(tái)可確保高靈敏度、無(wú)漂移成像和精確樣品導(dǎo)航,從而節(jié)約時(shí)間并允許用戶采集更多樣品數(shù)據(jù)。


        加快納米尺度分析以更快獲取答案 

        Talos F200X S/TEM 采用賽默飛**的 Super-XTM 集成 EDS 系統(tǒng),配備四個(gè)硅漂移 X 射線探測(cè)器,具有極高靈敏度,每秒可收集高達(dá) 105 幅能譜。X-TWIN 物鏡集成,**限度地提高了 X 射線收集效率,同時(shí)達(dá)到給定束流(甚至是低強(qiáng)度 EDS 信號(hào))下的理想輸出計(jì)數(shù)率。


        更輕松地開展研究
        Talos S/TEM 采用友好的數(shù)字用戶界面和**的人體工程學(xué)設(shè)計(jì),允許多名科學(xué)家訪問(wèn)成像和分析工作流程??焖賵D像采集與簡(jiǎn)單易用的操作平臺(tái)相結(jié)合,即使是經(jīng)驗(yàn)不足的操作者也能夠快速收集結(jié)果。人機(jī)分離的遠(yuǎn)程操作設(shè)計(jì)顯著提高了易用性、舒適性和電鏡的穩(wěn)定性。此外,為了確保維持工作效率,Talos S/TEM 配備了新型設(shè)備狀態(tài)記錄和診斷軟件,以便收集重要的儀器參數(shù),便于遠(yuǎn)程診斷和支持。

        產(chǎn)品參數(shù)

        X-FEG 亮度       1.8 × 109 A/cm2 srad(@200 kV) 
        總電子束電流     > 50 nA 
        探針電流       1.5 nA @ 1 nm 束斑 (200 kV) 
        Super-X EDS 系統(tǒng)    采用對(duì)稱設(shè)計(jì)的 SDD 能譜探頭,無(wú)窗設(shè)計(jì),遮板保護(hù) 
        能量分辨率  ≤ 136 eV Mn-Kα @10 kcps(輸出) 
        快速 EDS 面分析    像素駐留時(shí)間短至 10 μs 
        STEM HAADF 分辨率  0.16 nm 
        EDX 立體角 0.9 srad 
        TEM 信息分辨率 0.12 nm
        **衍射角度 24 ? 
        雙傾樣品桿的**傾斜角度 ±35° α 傾角 /±30° β 傾角 
        樣品臺(tái)**傾斜角度 ±90 ?

        特點(diǎn)與用途

        **的光學(xué)性能:恒定功率 A-TWIN 物鏡 

         **易用性:快速輕松的操作切換,適用于多用戶環(huán)境 
         超穩(wěn)定平臺(tái):恒定功率物鏡、壓電樣品臺(tái)、可靠的系統(tǒng)外殼和遠(yuǎn)程操作確保**的穩(wěn)定性 
         SmartCam 攝像頭:數(shù)字搜索和查看相機(jī)顯著提高所有應(yīng)用的處理能力,讓使用者可以離開暗室進(jìn)行遠(yuǎn)程操作。 
         完全集成的快速相機(jī):Ceta 16M 像素 CMOS 相機(jī)可提供大視場(chǎng)和高讀取速度(512 x 512 時(shí)為 25 fps) 
         全面的遠(yuǎn)程操作:自動(dòng)光闌系統(tǒng)與 Ceta 相機(jī)相結(jié)合,支持全面的遠(yuǎn)程操作 
         豐富的分析功能:Talos S/TEM 使用 EDS 三維成像技術(shù)將樣品成分分析能力從二維擴(kuò)展至三維。


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        10分

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        10分

        性價(jià)比

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