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飛納掃描電鏡顆粒統(tǒng)計(jì)分析測(cè)量系統(tǒng) Phenom Particle Metric
—— 研究顆粒和粉末的強(qiáng)大工具
使用基于飛納臺(tái)式掃描電鏡（Phenom SEM）的 ParticleMetric 顆粒測(cè)試工具，以*快、*簡(jiǎn)便的方式實(shí)現(xiàn)顆粒的可視化分析，是微觀顆粒分析技術(shù)的一大進(jìn)步?？焖?、易用和超清晰圖像質(zhì)量的 Phenom 飛納掃描電鏡，加上 Particle Metric 顆粒系統(tǒng)的顆粒圖像分析功能，為用戶提供了分析顆粒和粉末試樣的強(qiáng)大工具。
基于飛納掃描電鏡的顆粒分析解決方案 ParticleMetric 能夠使用戶根據(jù)需要，隨時(shí)獲取所觀測(cè)顆粒的面積、當(dāng)量直徑、表面積、外接圓直徑、比表面積、周長(zhǎng)、寬高比、充實(shí)度、伸長(zhǎng)率、灰度等級(jí)、長(zhǎng)軸、短軸長(zhǎng)度（橢圓）、凸殼體、重心、像素點(diǎn)數(shù)、凸?fàn)钗锏葦?shù)據(jù)，*終實(shí)現(xiàn) ParticleMetric 加速顆粒物分析速度、提升產(chǎn)品質(zhì)量的目的。
飛納掃描電鏡顆粒工具ParticleMetric的功能
1.可進(jìn)行以下顆粒分析
顆粒尺寸范圍：100nm ~ 0.1mm
顆粒探測(cè)速度：高達(dá) 1000 個(gè)/分鐘
顆粒測(cè)量屬性：大小、形狀、數(shù)量
2.可以測(cè)量的顆粒參數(shù)
面積、當(dāng)量直徑、表面積、外接圓直徑、比表面積、周長(zhǎng)、寬高比
充實(shí)度、伸長(zhǎng)率、灰度等級(jí)、長(zhǎng)軸長(zhǎng)度和短軸長(zhǎng)度（橢圓）
凸殼體、重心、像素點(diǎn)數(shù)、凸?fàn)钗?/span>
3.可以提供的圖形顯示
按數(shù)量或體積的線性、對(duì)數(shù)、雙對(duì)數(shù)點(diǎn)狀圖
任何指定參數(shù)的散點(diǎn)圖
單個(gè)顆粒的 SEM 圖像
4.可以提供的圖形輸出
Word 版本 docx 格式的報(bào)告，TIFF 格式的圖像
CSV 文件，離線分析的項(xiàng)目文件（.PAME）ProSuite 的一部分
飛納掃描電鏡顆粒系統(tǒng) ParticleMetric 工具的優(yōu)勢(shì)
1. 加載 ParticleMetric 軟件的飛納臺(tái)式掃描電鏡能夠輕松生成并分析圖像，方便用戶采集超細(xì)顆粒的形貌信息和顆粒的尺寸數(shù)據(jù)；
2. 全自動(dòng)的飛納掃描電鏡顆粒測(cè)試系統(tǒng) ParticleMetric 軟件測(cè)量可以實(shí)現(xiàn)超出光學(xué)顯微鏡、更好景深的視覺效果，為用戶提供顆粒物的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)、研發(fā)和質(zhì)量控制方面的細(xì)節(jié)數(shù)據(jù)；
3. ParticleMetric 軟件生成的柱狀圖、散點(diǎn)圖可以作為報(bào)告的內(nèi)容按照指定格式輸出。任何柱狀圖都可以按照被測(cè)顆粒的不同屬性，生成數(shù)量柱狀圖和體積柱狀圖。散點(diǎn)圖可以按照任何一項(xiàng)顆粒的特性生成，以便揭示相關(guān)聯(lián)系和趨勢(shì)；
4. 直接由 Phenom 獲取圖像，識(shí)別并確認(rèn)諸如破損顆粒、附著物和外來顆粒，關(guān)聯(lián)顆粒物的特征，比如直徑、充實(shí)度、縱橫比和凹凸度；
5. 便捷的操作提升了工作效率并使計(jì)劃表簡(jiǎn)單化和可視化；
6. 無限制的圖像采集，可輕松存儲(chǔ)于網(wǎng)絡(luò)或優(yōu)盤，便于共享、交流或以后參考；
7. Phenom 的易用性和對(duì)環(huán)境的良好適應(yīng)力，用戶可以將試樣**程度視覺化；
8. 附有高清圖片的統(tǒng)計(jì)學(xué)數(shù)據(jù)
飛納掃描電鏡顆粒系統(tǒng) ParticleMetric 軟件適合的應(yīng)用領(lǐng)域
化妝品行業(yè)；食品行業(yè)；化工行業(yè)；制藥行業(yè)；陶瓷；顆粒以及表面涂層；顆粒狀添加劑；環(huán)境顆粒；濾器/篩網(wǎng)公司
暫無數(shù)據(jù)！
今年 11 月 2 日起，每日早七點(diǎn)至晚八點(diǎn)，包括延安高架、南北高架在內(nèi)的多條道路禁止“外牌”、“臨牌”小客車、未載客的出租車等通行。因?yàn)樾履茉雌囓嚺戚^容易獲得，不少人轉(zhuǎn)投新能源汽車，因此帶動(dòng)了新能
2020-12-21
隨著鋼鐵行業(yè)進(jìn)入微利時(shí)代，生產(chǎn)具有更高附加值的高品質(zhì)潔凈鋼也成為鋼鐵企業(yè)自身發(fā)展的需求。因此，潔凈鋼技術(shù)研究及其生產(chǎn)工藝控制技術(shù)目前已是各鋼鐵企業(yè)的重要課題。生產(chǎn)潔凈鋼的關(guān)鍵在于減少鋼中的雜質(zhì)，而控制
2020-12-21
2020-12-21
今天，我們激動(dòng)地推出一款革命性的新產(chǎn)品——Phenom AFM-SEM 原子力掃描電鏡一體機(jī)，這是一款將 SEM 與 AFM 結(jié)合的全新設(shè)備，它將開啟臺(tái)式電鏡原位關(guān)聯(lián)的新時(shí)代，為樣品分析帶來前所未有的
【微觀敘事者：復(fù)納科技2025顯微圖像挑戰(zhàn)賽】即日開啟！不限品牌型號(hào)投稿，50%中獎(jiǎng)，豐厚獎(jiǎng)金等你挑戰(zhàn)！ 羽毛的紋理，是風(fēng)與生命私語的痕跡；礦石的脈絡(luò)，是地質(zhì)變遷書寫的篇章。在我們?nèi)庋蹮o法企
文章轉(zhuǎn)自：中國(guó)科學(xué)技術(shù)大學(xué)工程與材料科學(xué)實(shí)驗(yàn)中心 發(fā)布時(shí)間：2024-12-02最近，由世界最著名臺(tái)式電鏡制造商提供的飛納臺(tái)式掃描電子顯微鏡巡展及免費(fèi)測(cè)樣活動(dòng)在中國(guó)科學(xué)技術(shù)大學(xué)工程與材料科學(xué)實(shí)驗(yàn)中心（
作者：科羅拉多大學(xué) Amanda L. Hoskins 等人文章：Nonuniform Growth of Sub?2 Nanometer Atomic Layer Deposited A
在材料科學(xué)和工程領(lǐng)域，對(duì)材料內(nèi)部結(jié)構(gòu)的深入理解對(duì)于新材料的開發(fā)和現(xiàn)有材料性能的提升至關(guān)重要。顯微計(jì)算機(jī)斷層掃描（Micro-CT）技術(shù)作為一種先進(jìn)的成像工具，能夠在不破壞樣品的情況下，揭示材料內(nèi)部的微
如之前【飛納電鏡：從飛利浦到賽默飛，是最“老”的電鏡，也是最“新”的電鏡（上篇）】的介紹，飛納電鏡繼承荷蘭飛利浦和 FEI 三倉(cāng)分離和逐級(jí)抽真空專利設(shè)計(jì)，可以實(shí)現(xiàn) 15 秒抽真空 30 秒成像，這是目
飛納臺(tái)式掃描電鏡顆粒統(tǒng)計(jì)分析測(cè)量系統(tǒng)的工作原理介紹？飛納臺(tái)式掃描電鏡顆粒統(tǒng)計(jì)分析測(cè)量系統(tǒng)的使用方法？飛納臺(tái)式掃描電鏡顆粒統(tǒng)計(jì)分析測(cè)量系統(tǒng)多少錢一臺(tái)？飛納臺(tái)式掃描電鏡顆粒統(tǒng)計(jì)分析測(cè)量系統(tǒng)使用的注意事項(xiàng)飛納臺(tái)式掃描電鏡顆粒統(tǒng)計(jì)分析測(cè)量系統(tǒng)的說明書有嗎？飛納臺(tái)式掃描電鏡顆粒統(tǒng)計(jì)分析測(cè)量系統(tǒng)的操作規(guī)程有嗎？飛納臺(tái)式掃描電鏡顆粒統(tǒng)計(jì)分析測(cè)量系統(tǒng)的報(bào)價(jià)含票含運(yùn)費(fèi)嗎？飛納臺(tái)式掃描電鏡顆粒統(tǒng)計(jì)分析測(cè)量系統(tǒng)有現(xiàn)貨嗎？飛納臺(tái)式掃描電鏡顆粒統(tǒng)計(jì)分析測(cè)量系統(tǒng)包安裝嗎？
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