參考價(jià)格
面議型號(hào)
ChemiPhase品牌
飛納產(chǎn)地
荷蘭樣本
暫無(wú)探測(cè)器:
*加速電壓:
*電子槍:
*電子光學(xué)放大:
*光學(xué)放大:
*分辨率:
*看了飛納電鏡ChemiPhase物相分析軟件的用戶又看了
虛擬號(hào)將在 180 秒后失效
使用微信掃碼撥號(hào)
適用金屬和礦物研究—飛納電鏡ChemiPhase物相分析軟件
更容易,更全面,更準(zhǔn)確的物相分析
對(duì)于金屬合金和礦物分析領(lǐng)域的研究人員來(lái)說(shuō),物相分析 非常重要,物相分析通??梢越柚鷴呙桦婄R背散射電子信 號(hào)成像(BSE)和能譜(EDS 成分分析)來(lái)進(jìn)行判定。 掃描電鏡背散射電子成像(BSE)信號(hào)強(qiáng)度隨原子量而變 化,可以通過(guò)成分襯度尋找異質(zhì)材料。但是,如果材料具 有相似的原子量或材料的化學(xué)性質(zhì)過(guò)于復(fù)雜,則 BSE 對(duì)比 度可能會(huì)很差,從而導(dǎo)致不完整的表征結(jié)果,甚至可能出 現(xiàn)錯(cuò)誤結(jié)論
ChemiPhase 物相分析軟件可幫助我們輕松找到問(wèn)題答案,并且給出 以下信息:成分是什么,它是如何分布的,以及每個(gè)相有多少。 飛納電鏡 ChemiPhase 物相分析軟件是 ChemiSEM 技術(shù)中一種新型物相鑒定和定量表征手段, 旨在通過(guò)結(jié)合先進(jìn)的統(tǒng)計(jì)分析和 ChemiSEM SEM-EDS 平臺(tái)來(lái)識(shí)別獨(dú)特的物相,并識(shí)別成分列出 其面積分?jǐn)?shù),從而應(yīng)對(duì)這些挑戰(zhàn)
什么是 ChemiPhase 物相分析軟件
飛納電鏡 ChemiSEM 軟件使用大數(shù)據(jù)方法來(lái)采集樣品的立體數(shù)據(jù),自動(dòng)統(tǒng)計(jì)出具有統(tǒng)計(jì)意義的 物相。然后,飛納電鏡 ChemiPhase 物相分析軟件為每個(gè)像素提供一個(gè)簡(jiǎn)單的概率,指示它歸 屬于哪個(gè)相。因?yàn)槊總€(gè)像素只能屬于一個(gè)相,這使得復(fù)雜樣品的解釋更加直接并且直觀。值得注 意的是,飛納電鏡 ChemiPhase 物相分析軟件是一個(gè)全面、準(zhǔn)確的統(tǒng)計(jì)軟件,可以解決傳統(tǒng)方 法的難題。傳統(tǒng)方法如果遺漏了元素(即,由于重疊的峰或強(qiáng)度不足),可能會(huì)產(chǎn)生錯(cuò)誤的結(jié) 果。此外,傳統(tǒng)的物相測(cè)定高度依賴于對(duì)樣品的假設(shè),而 ChemiPhase 物相分析軟件可確保所 有用戶都能獲得相同的結(jié)果,即使是具有挑戰(zhàn)性的樣品也是如此。
ChemiPhase 物相分析軟件優(yōu)勢(shì)軟件優(yōu)勢(shì) 不到一分鐘的時(shí)間內(nèi)完成大多數(shù)采集,即使是復(fù)雜的相圖也是如此 全自動(dòng)運(yùn)行,無(wú)需事先識(shí)別元素 明確識(shí)別主要和次要組件,精確到單個(gè)像素 無(wú)需豐富的用戶體驗(yàn)即可定位微量和微量元素 提供完整而全面的分析 定位峰重疊會(huì)掩蓋重要元素的獨(dú)特組分 可以使用非常少的 X 射線數(shù)據(jù)開(kāi)始相位測(cè)定,每個(gè)像素低至 10 個(gè)計(jì)數(shù)。
來(lái)源:復(fù)納科學(xué)儀器(上海)有限公司
聯(lián)系電話:400-81******
來(lái)源鏈接:
暫無(wú)數(shù)據(jù)!
今年 11 月 2 日起,每日早七點(diǎn)至晚八點(diǎn),包括延安高架、南北高架在內(nèi)的多條道路禁止“外牌”、“臨牌”小客車(chē)、未載客的出租車(chē)等通行。因?yàn)樾履茉雌?chē)車(chē)牌較容易獲得,不少人轉(zhuǎn)投新能源汽車(chē),因此帶動(dòng)了新能
2020-12-21
隨著鋼鐵行業(yè)進(jìn)入微利時(shí)代,生產(chǎn)具有更高附加值的高品質(zhì)潔凈鋼也成為鋼鐵企業(yè)自身發(fā)展的需求。因此,潔凈鋼技術(shù)研究及其生產(chǎn)工藝控制技術(shù)目前已是各鋼鐵企業(yè)的重要課題。生產(chǎn)潔凈鋼的關(guān)鍵在于減少鋼中的雜質(zhì),而控制
2020-12-21
2020-12-21
今天,我們激動(dòng)地推出一款革命性的新產(chǎn)品——Phenom AFM-SEM 原子力掃描電鏡一體機(jī),這是一款將 SEM 與 AFM 結(jié)合的全新設(shè)備,它將開(kāi)啟臺(tái)式電鏡原位關(guān)聯(lián)的新時(shí)代,為樣品分析帶來(lái)前所未有的
【微觀敘事者:復(fù)納科技2025顯微圖像挑戰(zhàn)賽】即日開(kāi)啟!不限品牌型號(hào)投稿,50%中獎(jiǎng),豐厚獎(jiǎng)金等你挑戰(zhàn)! 羽毛的紋理,是風(fēng)與生命私語(yǔ)的痕跡;礦石的脈絡(luò),是地質(zhì)變遷書(shū)寫(xiě)的篇章。在我們?nèi)庋蹮o(wú)法企
文章轉(zhuǎn)自:中國(guó)科學(xué)技術(shù)大學(xué)工程與材料科學(xué)實(shí)驗(yàn)中心 發(fā)布時(shí)間:2024-12-02最近,由世界最著名臺(tái)式電鏡制造商提供的飛納臺(tái)式掃描電子顯微鏡巡展及免費(fèi)測(cè)樣活動(dòng)在中國(guó)科學(xué)技術(shù)大學(xué)工程與材料科學(xué)實(shí)驗(yàn)中心(
作者:科羅拉多大學(xué) Amanda L. Hoskins 等人文章:Nonuniform Growth of Sub?2 Nanometer Atomic Layer Deposited A
在材料科學(xué)和工程領(lǐng)域,對(duì)材料內(nèi)部結(jié)構(gòu)的深入理解對(duì)于新材料的開(kāi)發(fā)和現(xiàn)有材料性能的提升至關(guān)重要。顯微計(jì)算機(jī)斷層掃描(Micro-CT)技術(shù)作為一種先進(jìn)的成像工具,能夠在不破壞樣品的情況下,揭示材料內(nèi)部的微
如之前【飛納電鏡:從飛利浦到賽默飛,是最“老”的電鏡,也是最“新”的電鏡(上篇)】的介紹,飛納電鏡繼承荷蘭飛利浦和 FEI 三倉(cāng)分離和逐級(jí)抽真空專利設(shè)計(jì),可以實(shí)現(xiàn) 15 秒抽真空 30 秒成像,這是目