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ANASYS公司長期致力于納米熱學(xué)分析領(lǐng)域，開發(fā)出了多種新穎的、易操作的研究和分析儀器。基于多年累積的納米熱學(xué)**技術(shù)，ANASYS又推出了一款**的測試技術(shù)儀器——Nano-IR納米級紅外光譜儀。突破了傳統(tǒng)的傅里葉紅外光譜（FT-IR）及衰減全反射紅外光譜（ATR-IR）的分辨局限，讓用戶可以獲得納米尺度上的紅外光譜分析、熱分析、掃描探針成像和熱力學(xué)性能測試。

技術(shù)參數(shù)

主要技術(shù)參數(shù)

光譜范圍：1200-1600cm-1

光譜分辨率：<16cm-1

**圖像尺寸：100μm×100μm

光譜采集時間：≤1min

主要特點

①　與“遠(yuǎn)場”光學(xué)相比，改技術(shù)的特點在于吸收的輻射可以通過尖端近場的尖端得到測量。

②　PTIR技術(shù)可以實現(xiàn)納米級紅外并獲得樣品的化學(xué)性質(zhì)。

③　接觸共振獲得樣品的力學(xué)性質(zhì)。

④　通過原子力顯微鏡（AFM）獲得高分辨率的樣品三維相貌圖。

⑤　納米熱學(xué)分析獲得樣品的熱量傳輸溫度。

⑥　Nano-IR操作軟件能夠自動的跟蹤并且可以讓用戶便捷的獲得樣品任

意位置的紅外吸收光譜。