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高品質(zhì)的圖像

通過改進電子光學系統(tǒng)，使圖像質(zhì)量更高，分析更快。

減少了充放電現(xiàn)象

新的掃描方式能抑制非導電性樣品的荷電效應。

低真空模式(LV)

低真空壓力范圍從10 Pa 至 650 Pa，拓寬了可以觀察的樣品材料的范圍。

樣品臺導航系統(tǒng)

全自動5 軸馬達驅(qū)動樣品臺提高了尋找感興趣的區(qū)域（ROI）的速度。使用導航系統(tǒng)（選配件）在彩色圖像上能迅速到達感興趣的區(qū)域。

大型樣品室和樣品臺。

能容納大型、較重的樣品，可裝載**尺寸為200 mm（φ）× 80 mm（ H）、重達2 kg 的樣品。

**幾何設(shè)計的分析接口。

多個接口可以安裝EDS、EBSD 和WDS 等附件， EDS 和EBSD 處于同一平面，此外，還能安裝兩個相隔180 度的EDS 檢測器用于高通量的顯微分析。