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            日本JEOL場(chǎng)發(fā)射電子顯微鏡JEM-3200FS
            日本JEOL場(chǎng)發(fā)射電子顯微鏡JEM-3200FS

            參考價(jià)格

            面議

            型號(hào)

            品牌

            產(chǎn)地

            日本

            樣本

            暫無
            深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司

            會(huì)員

            |

            第2年

            |

            生產(chǎn)商

            工商已核實(shí)

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            產(chǎn)品詳情

            日本JEOL場(chǎng)發(fā)射電子顯微鏡JEM-3200FS

            JEM-3200FS場(chǎng)發(fā)射電子顯微鏡配備了**加速電壓為300kV的場(chǎng)發(fā)射電子槍(FEG)和鏡筒內(nèi)置式Ω型能量過濾器,能為廣泛的研究領(lǐng)域提供各種全新的解決方案。

            產(chǎn)品規(guī)格:

            物鏡極靴*1

            超高分辨UHR

            高分辨率HR

            高傾斜HT

            高襯度HC

            分辨率

             點(diǎn)分辨率

            晶格分辨率

            0.17nm

            0.1nm

            0.19nm

            0.1nm

            0.21nm

            0.1nm

            0.26nm

            0.14nm

            能量分辨率

            0.9 eV(零損失FWHM)

            加速電壓

            300kV,200kV,100kV*2

             *小步長(zhǎng)

             能量位移

            100V

            **3,000V (以0.2V為步長(zhǎng))

            電子槍

             發(fā)射體

            ZrO/W(100) 肖特基式

             亮度

            ≧7×108 A/cm2 ? sr

             真空度

            3×10-8Pa

             探針電流

            探針直徑為1nm時(shí),電流在0.5nA以上

            穩(wěn)定度

             加速電壓

            2×10-6/min

             物鏡電流

            1×10-6/min

             過濾器透鏡電流

            1×10-6/min

            物鏡

             焦距

            2.7 mm

            3.0 mm

            3.5 mm

            3.9 mm

             球差系數(shù)

            0.6 mm

            1.1 mm

            1.4 mm

            3.2 mm

             色差系數(shù)

            1.5 mm

            1.8 mm

            2.2 mm

            3.0 mm

             *小焦距步長(zhǎng)

            1.0 nm

            1.4 nm

            1.5 nm

            4.1 nm

            束斑尺寸

             TEM 模式

            2 ~ 5 nmφ

            2 ~ 5 nmφ

            7 ~ 30 nmφ

             EDS 模式

            0.4 ~ 1.6 nmφ

            0.5 ~ 2.4 nmφ

            4 ~ 20 nmφ

             NBD 模式

            0.4 ~ 1.6 nmφ

            0.5 ~ 2.4 nmφ

            -

             CBD 模式

            0.4 ~ 1.6 nmφ

            0.5 ~ 2.4 nmφ

            -

            電子束衍射

             衍射角(2α)

            1.5 t~ 20 mrad

            -

             取出角

            ±10 °

            -

            倍率

             MAG 模式

            ×2,500 ~ 1,500,000

            ×2,000 ~ 1,200,000

            ×1,500 ~ 1,200,000

             LOW MAG 模式

            ×100 ~ 3,000

             SA MAG 模式

            ×8,000 ~ 600,000

            ×6,000 ~ 500,000

            ×5,000 ~ 500,000

            視野

            10eV時(shí)狹縫寬度60mm(底片上)

            2eV時(shí)狹縫寬度25mm(底片上)

            相機(jī)長(zhǎng)度

             選區(qū)電子衍射

            200 ~ 2,000 mm

            250 ~ 2,500 mm

            400 ~ 3,000 mm

            EELS 散射

             能量選擇

             在能量選擇狹縫上

            0.85 μm/eV , 300 kV

             底片上

            100 ~ 220 μm/eV , 300kV

            樣品室

             樣品移動(dòng)范圍 (XY/Z)

            2mm/0.2mm

            2mm/0.4mm

            2mm/0.4mm

            2mm/0.4mm

             樣品傾斜角 (X/Y)

            ±25°/±25°*3

            ±35°/±30°*3

            ±42°/±30°*3

            ±38°/±30°*3

            EDS*4

             固體角

            0.13 sr

            0.09 sr

             取出角

            25°

            20°

            產(chǎn)品特點(diǎn):

            · JEM-3200FS場(chǎng)發(fā)射電子顯微鏡配備了**加速電壓為300kV的場(chǎng)發(fā)射電子槍(FEG)和鏡筒內(nèi)置式Ω型能量過濾器,能為廣泛的研究領(lǐng)域提供各種全新的解決方案。

            · 鏡筒內(nèi)置式Ω型能量過濾器(omega 過濾器)

            · 鏡筒內(nèi)置式Ω型能量過濾器內(nèi)置于成像透鏡系統(tǒng),能容易地獲得能量過濾像和能量損失譜,同時(shí)還能獲得與傳統(tǒng)電子顯微鏡同等的放大倍率范圍。此外、Ω型過濾器的電子光學(xué)系統(tǒng)在設(shè)計(jì)上**程度地減少了圖像畸變,出廠前還將剩余一點(diǎn)的畸變做了*后的修正。JEM-3200FS還采用了高靈敏度的相機(jī)系統(tǒng)及圖像處理系統(tǒng)(選配件),可以構(gòu)建元素面分布系統(tǒng)及能量損失譜系統(tǒng)。

            · 新型控制系統(tǒng)

            · 電子槍、電子光學(xué)系統(tǒng)、測(cè)角臺(tái)、抽真空系統(tǒng)等電子顯微鏡基本功能的系統(tǒng)化,實(shí)現(xiàn)了高穩(wěn)定、高性能的控制系統(tǒng)。圖像畫面和用戶界面 采用Windows ®*1,可以進(jìn)行編程操作和附件的集中控制。

            · 新型測(cè)角臺(tái)

            · 系統(tǒng)化的新型測(cè)角臺(tái)內(nèi)置壓電陶瓷驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu),使高倍率下的樣品移動(dòng)更加精確。*2.

            · *1 : 注意事項(xiàng):Windows是微軟公司在美國(guó)和其他國(guó)家的注冊(cè)商標(biāo)。

            *2 : 僅有壓電元件包括在基本單元中,壓電元件的電源為選配件。

            創(chuàng)新點(diǎn)

            暫無數(shù)據(jù)!

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            暫無相關(guān)方案。
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            用戶評(píng)論

            產(chǎn)品質(zhì)量

            10分

            售后服務(wù)

            10分

            易用性

            10分

            性價(jià)比

            10分
            評(píng)論內(nèi)容
            暫無評(píng)論!
            公司動(dòng)態(tài)
            暫無數(shù)據(jù)!
            技術(shù)文章
            暫無數(shù)據(jù)!
            問商家
            • 日本JEOL場(chǎng)發(fā)射電子顯微鏡JEM-3200FS的工作原理介紹?
            • 日本JEOL場(chǎng)發(fā)射電子顯微鏡JEM-3200FS的使用方法?
            • 日本JEOL場(chǎng)發(fā)射電子顯微鏡JEM-3200FS多少錢一臺(tái)?
            • 日本JEOL場(chǎng)發(fā)射電子顯微鏡JEM-3200FS使用的注意事項(xiàng)
            • 日本JEOL場(chǎng)發(fā)射電子顯微鏡JEM-3200FS的說明書有嗎?
            • 日本JEOL場(chǎng)發(fā)射電子顯微鏡JEM-3200FS的操作規(guī)程有嗎?
            • 日本JEOL場(chǎng)發(fā)射電子顯微鏡JEM-3200FS的報(bào)價(jià)含票含運(yùn)費(fèi)嗎?
            • 日本JEOL場(chǎng)發(fā)射電子顯微鏡JEM-3200FS有現(xiàn)貨嗎?
            • 日本JEOL場(chǎng)發(fā)射電子顯微鏡JEM-3200FS包安裝嗎?
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