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            燒結(jié)溫度如何影響固態(tài)電池界面


            來源:能源學(xué)人

            [導(dǎo)讀]  燒結(jié)溫度如何影響固態(tài)電池界面?

            中國(guó)粉體網(wǎng)訊


            【研究背景】


            匹配固態(tài)電解質(zhì)(SE)的固態(tài)電池(SSB)有望滿足人們對(duì)安全、高功率和高容量?jī)?chǔ)能的需求,其中LLZO具有超高的離子電導(dǎo)率(10-4Scm-1)和對(duì)鋰金屬的高化學(xué)穩(wěn)定性,被認(rèn)為是最有前途的SE之一。實(shí)際上,LLZO在負(fù)極側(cè)能滿足SE的要求,但在正極側(cè)界面兼容性(SE|CAM)不足,目前主要通過在高溫下共燒結(jié)材料來實(shí)現(xiàn)。同時(shí),共燒結(jié)過程存在有害相的形成,從而阻礙了鋰的擴(kuò)散途徑,導(dǎo)致顆粒的電化學(xué)性能惡化,但目前仍未發(fā)表具有原子級(jí)分辨率的高質(zhì)量LLZO|CAM界面研究。


            【成果簡(jiǎn)介】


            鑒于此,德國(guó)馬爾堡菲利普斯大學(xué)KerstinVolz和吉森大學(xué)JürgenJanek研究了不同溫度下共燒結(jié)的(LLZO|NCM)復(fù)合正極,闡明了燒結(jié)溫度對(duì)材料完整性的影響。通過TEM、PED和EELS等手段對(duì)樣品分析表明,首次得到了LLZO|NCM界面的高分辨率透射電子顯微鏡圖像,在500℃的溫度下,形成類似LaNiO3的相,以及形成類似NiO巖鹽的相,嚴(yán)重影響了離子的傳輸,這也引發(fā)了在構(gòu)建復(fù)合電極時(shí)是否應(yīng)該使用具有未涂層NCM的思考。相關(guān)研究成果以“Influence of the sintering temperature on LLZO-NCM cathode composites for solid-state batteries studied by transmission electron microscopy”為題發(fā)表在Matter上。


            【核心內(nèi)容】


            燒結(jié)溫度的影響


            為了研究燒結(jié)溫度對(duì)復(fù)合物結(jié)構(gòu)的影響,分析了三種不同的Li.6.25Al0.25La3Zr2O12和LiNi0.6Co0.2Mn0.2O2復(fù)合樣品,如圖1A-C所示的SEM圖像:1A為被等靜壓制而不燒結(jié),1B和1C為在壓制成顆粒后分別在500℃和600℃下燒結(jié)。在微米尺度上,沒有發(fā)現(xiàn)樣品之間的差異。



            圖1.LLZO|NCM復(fù)合顆粒的SEM圖像:(A)僅壓制成顆粒而不燒結(jié)的樣品,(B)壓制成顆粒后在500℃燒結(jié)的樣品,(C)壓制成顆粒后在600℃燒結(jié)的樣品。


            如圖2A-2C顯示了三種不同LLZO-NCM復(fù)合材料中NCM次級(jí)粒子的PED相圖,層狀NCM與NiO的比例有一個(gè)明顯的趨勢(shì),原始樣品幾乎完全由層狀NCM相組成(層狀NCM與NiO的比例為99:1),而在500℃下燒結(jié)的樣品僅表現(xiàn)出幾個(gè)NiO結(jié)構(gòu)區(qū)域(比例為93:7),在600℃燒結(jié)的樣品中,比例為80:20。結(jié)果表明NiO結(jié)構(gòu)的相變主要發(fā)生在初級(jí)顆粒的晶界處,在次級(jí)顆粒表面尤為突出,相變區(qū)域大約為幾十納米。如圖2D和2E為HRTEM測(cè)量結(jié)果,在圖2D中觀察到的晶格平面與分層NCM(003)平面相匹配,其晶面間距為4.7Å。圖2E中顯示的初級(jí)晶粒由由巖鹽狀結(jié)構(gòu)組成,與NiO<110>方向、{111}晶面(d=2.4Å)以及{110}晶面(d=2.9Å)相匹配。圖2D和2E中插圖的傅里葉變換(FFT)進(jìn)一步表明了對(duì)層狀相和巖鹽狀結(jié)構(gòu)的評(píng)估。因此,NCM622在500℃至600℃下與LLZO共燒結(jié)時(shí)經(jīng)歷向巖鹽狀相轉(zhuǎn)變,且相變主要但不完全發(fā)生在次級(jí)粒子的表面。



            圖2.LLZO|NCM復(fù)合材料的PED相圖和相應(yīng)的HRTEM圖像:(A-C)NCM二次晶粒的PED相圖來自(A)原始樣品,(B)在500℃下燒結(jié)的樣品,及(C)在600℃下燒結(jié)的樣品,(LLZO以綠色顯示,NCM以藍(lán)色顯示,NiO以黃色顯示)。(D)圖B中標(biāo)記的區(qū)域的HRTEM圖像。(E)圖C中標(biāo)記的區(qū)域的HRTEM圖像。


            LLZO|NCM界面的觀察


            為了研究LLZO和NCM之間的界面,以及在500℃溫度下燒結(jié)的樣品中兩種材料的接觸如何影響顆粒的結(jié)構(gòu)完整性,如圖3所示對(duì)界面區(qū)域進(jìn)行觀察。如圖3B為TEM照片,選擇了一個(gè)在LLZO和NCM晶粒之間直接接觸的界面區(qū)域進(jìn)行分析。如圖3A為界面區(qū)域的局部HRTEM圖像,左側(cè)LLZO顆粒的晶面略微可見,右側(cè)NCM晶粒的晶面清晰可見。在LLZO和NCM之間的界面上,可以觀察到第三相的晶面。為了更清楚可見,對(duì)三個(gè)不同的階段進(jìn)行了著色,并用白色虛線標(biāo)記了階段的輪廓。此外,三個(gè)不同相的放大圖像以及接近分層NCM的過渡區(qū)域如圖3D所示。如圖3D3和3D4中放大的NCM顆粒中晶面間距為4.7Å,對(duì)應(yīng)NCM(003)晶面,如圖3C所示,且晶帶軸為[100]或[-100]。在圖3D1中,LLZO晶面間距為1.8Å,推斷是{111}晶面,以<211>為方向。如圖3D2和3D3中淺藍(lán)色界面區(qū)域中的晶面間距為1.9Å,對(duì)應(yīng)于NCM分層相的(003)生長(zhǎng)方向和(0-14)的晶面間距(2.03Å),如圖3C。然而,觀察到的晶面顯然不是NCM的(0-14)晶面,因?yàn)樵贖RTEM圖像中具有不同的對(duì)比度,NCM中的(003)平面在[100]方向上可見(如圖3D4)。為了進(jìn)一步觀察分析這些晶面,如圖3C所示,分層NCM的(003)晶面逐漸消失,成為L(zhǎng)aNiO3的(111)晶面(藍(lán)色虛線),晶面間距為1.9Å與LaNiO3的(002)晶面相匹配。



            圖3.LLZO|NCM界面的相變區(qū)域觀察:(A)圖B中標(biāo)記LLZO|NCM界面區(qū)域的HRTEM圖像,(B)LLZO|NCM界面區(qū)域的TEM圖像。(C)NCM在層狀相中的晶體結(jié)構(gòu)示意圖以及可能的相變結(jié)構(gòu),(D)圖A中區(qū)域的放大及對(duì)應(yīng)的FFTs。


            為了進(jìn)一步尋找LaNiO3相形成的證據(jù),進(jìn)行了EELS測(cè)量。在圖4B顯示了在NCM(光譜1)和LLZO(光譜4)區(qū)域中氧K邊緣的EEL光譜,以及在NCM(光譜2)和LLZO(光譜3)表面直接接觸的位置的兩個(gè)光譜,如圖4A為在暗場(chǎng)(HAADF)下的STEM圖像。在NCM中的光譜由層狀相位組成,在527eV處的氧預(yù)峰和538eV處的氧主峰。氧預(yù)峰是氧化物的特征,很明顯在NCM的主體和表面記錄的光譜中,氧預(yù)峰的比例不同。光譜2中NCM表面的氧預(yù)峰較小,表明Ni的氧化態(tài)低于體相,NCM層狀相(Ni3+)部分轉(zhuǎn)變?yōu)閹r鹽狀結(jié)構(gòu)(Ni2+)。在LLZO中的O峰沒有表現(xiàn)出前邊緣結(jié)構(gòu),但光譜4和光譜3之間存在巨大差異。雖然光譜3靠近LLZO粒子,但它同時(shí)具有LLZO和NCM光譜的特征。這些結(jié)果可以通過LLZO和NCM之間的元素交換來解釋。



            圖4.界面區(qū)域的EELS:(A)LLZO|NCM界面區(qū)域的HAADFSTEM圖像,(B)圖A中標(biāo)定區(qū)域的EEL圖譜。


            此外,沿著LLZO和NCM之間的界面觀察到元素的混合和NCM顆粒在表面的相變,而且還在NCM顆粒的大部分中發(fā)現(xiàn)了許多晶體缺陷。如圖5A中的HRTEM圖像顯示了NCM晶粒,在LLZO顆粒旁邊表現(xiàn)出許多晶格缺陷。與原始NCM晶粒相比,對(duì)圖5A中標(biāo)記的區(qū)域采用傅里葉逆變換(如圖5B),位錯(cuò)的數(shù)量密度變得更明顯。



            圖5.晶格缺陷的觀察:(A)LLZO和NCM界面之間的HRTEM圖像,(B)圖A中標(biāo)記區(qū)域的反FFT觀察缺陷數(shù)量。


            【結(jié)論展望】


            綜上,本文研究了共燒結(jié)溫度對(duì)LLZO-NCM復(fù)合材料完整性的影響,作者合成了三種不同的樣品,在納米尺度上檢測(cè)相關(guān)區(qū)域的組成變化,表明NCM初級(jí)晶粒經(jīng)歷了原始層狀相到巖鹽狀結(jié)構(gòu)。在500℃下燒結(jié)的NCM顆粒沒有顯示出大規(guī)模的相變,但在LLZO界面處使的分析揭示了晶粒內(nèi)的大量晶格缺陷,尤其是邊緣位錯(cuò)以及從層狀到LaNiO3的相變并形成巖鹽狀相。這種結(jié)構(gòu)變化阻礙了鋰離子向整體的傳輸,最終導(dǎo)致倍率能力差和電極容量降低。進(jìn)一步的EELS測(cè)量表明LLZO和NCM之間存在元素交換,突出了STEM觀察在獲得材料結(jié)構(gòu)特性方面的重要性。最后建議加強(qiáng)研究穩(wěn)定SE|CAM界面,如通過使用涂層,制造性能良好的全固態(tài)電池。


            (中國(guó)粉體網(wǎng)編輯整理/文正)

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