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儀器簡介：

ZSX Primus Ⅳ是理學公司全新奉獻的上照射式X射線熒光光譜儀，因采用了新型分光晶體，使輕元素分析(如C，B)靈敏度大幅度提高。超輕元素對應X射線光管，大功率4千瓦，薄窗，適合輕元素分析。48樣品臺，節(jié)省空間.1次濾波片，可去掉來自光管的特征譜線，減低背景。雙真空，雙泵設計，節(jié)省抽真空時間。防粉塵附件，可防止粉末掉入真空泵。微區(qū)分析可達500，適合少量樣品分析。

軟件在原有的SQX軟件基礎上進一步完善，采用對話方式，進行EZ掃描。應用模板，可將各種測試條件，以及前處理順序設置其中。FP無標樣分析，是理學公司多年來總結出的一套很好的分析方法，不設定測試成分也能準確分析。流程條，按順序顯示測試處理內容。標準樣品，操作手冊全中文提供，方便中國用戶。

維修保養(yǎng):PAS自動調整，芯線自動清洗.給用戶帶來方便。

技術參數(shù)：

硬件： 1. 對應超輕元素的X射線光管：采用4kW、30μm薄窗X射線光管，可高靈敏度測試超輕元素。

2. 采用新型光學系統(tǒng)：采用新型分光晶體，與第二代儀器分光晶體相比，大幅度提高了靈敏度。

3. 48樣品交換器：實現(xiàn)平臺式共享化，可放置48個樣品，多樣品交換器實現(xiàn)了省空間。

4. 1次X射線濾光片：除去X射線光管的特征X射線光譜，在減低背景干擾方面發(fā)揮威力。

5. 雙泵、雙真空系統(tǒng)：采用雙真空系統(tǒng)（樣品室/預抽真空室）；防止粉末樣品的細微粉塵混入光學系統(tǒng)的 結構設計，樣品交換實現(xiàn)更高效率。

6. 粉末附件：電磁閥真空密封、防止細微粉塵進入真空泵內。

7.定點分析：

100μm的Mapping分辨率?？稍贑CD圖像上指定點、區(qū)域、線。定點*小直徑500μm。

采用r-θ樣品臺，避免1次X射線的照射面、以及分光晶體的反射強度的干擾，可得到很佳靈敏度分析結果。(無r-θ樣品臺) 節(jié)能、節(jié)省空間、節(jié)能功能（自動減少X射線光管輸出）減少冷卻水量5L/min（水溫30以下）PR氣體流量減少（5mL/min）省空間。采用聯(lián)體設計，設置面積只占傳統(tǒng)儀器70%的空間。便于維護PAS脈沖高度自動調整 F-PC芯線自動清洗。

軟件：

1. 新版SQX軟件：在RIGAKU獨有的基本參數(shù)法技術的基礎上SQX（Scan Quant X），追加了新功能。

2. 委托分析EZ掃描：采用對話框形式設定，可進行SQX分析。

3. 定角測試模式：微量元素，采用譜峰和扣背景以一定時間記數(shù)方法，使用抑制統(tǒng)計變動的X射線強度，算出分析值。自動設定每個樣品變化扣背景的位置。

4. 應用模板 ：各種測試條件以及樣品前處理順序均設置其中。

5. 散射線FP法：

不需設定非測試成分，也可以準確分析。散射線強度計算，可以考慮幾何學效果，沒有樣品量信息也可準確分析。不易加壓成形的樣品以及油狀樣品，使用SQX軟件，可以簡單、準確地進行分析。

流程條： 測試、處理流程顯示。根據(jù)流程條內容，擊鼠標鍵，便可按順序進行所需的測試、處理。

其它特點的軟件功能： SQX分析功能

Mapping數(shù)據(jù)庫

材質辨別

理論重疊校正

自動程序運轉

校正投入量計算

應用軟件包：

應用軟件包，設定樣品（標準樣品、漂移校正樣品）

CD-ROM（測試條件、校正常數(shù)等）、操作手冊全盤提供。

主要特點：

1. 輕元素（B，C）靈敏度大幅度提高

2. 配備全新的、高強度的分光晶體RX-25，RX-61，RX-75

3. 重金屬的高靈敏度分析-采用全新型光學系統(tǒng)

4. 高靈敏度微區(qū)分析-Mapping位置分辨率100μm

5. **的無標樣分析-全新的SQX軟件

6. 儀器設計充分考慮周邊環(huán)境-節(jié)能、省空間