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            研究級高端傅立葉變換真空紅外光譜儀
            研究級高端傅立葉變換真空紅外光譜儀

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            德國

            樣本

            暫無
            北京嘉德利達科技有限公司

            會員

            |

            第2年

            |

            生產(chǎn)商

            工商已核實

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            1.產(chǎn)品介紹:

            VERTEX 80和VERTEX 80v真空FTIR光譜儀采用主動準直的 UltraScan™ 干涉儀,能夠為您帶來**的光譜分辨率。高精度的線性氣動軸承掃描儀以及優(yōu)質(zhì)光學元件為儀器的極限靈敏度和穩(wěn)定性提供了保證。VERTEX 80v采用真空光學臺,可消除大氣中的水分吸收,從而實現(xiàn)**的靈敏度和穩(wěn)定性,助力進行諸多高難度試驗,如高分辨率、超快速掃描、步進掃描或紫外光譜范圍測量。

            得益于VERTEX 80/80v 的光學設(shè)計,系統(tǒng)不僅具備**的靈活性,還擁有**的性能。布魯克光學****的DigiTect™技術(shù),有助于避免外部信號干擾,保證了儀器的**信噪比,這使得用戶可以輕松重復地自行更換檢測器。兩個可選的外接檢測器端口可安裝輻射熱測量計和/或熱電子檢測器的液氦杜瓦。與外接的水冷高功率Hg-arc光源相結(jié)合,即便是使用室溫DTGS檢測器,也能達到近期重新發(fā)現(xiàn)的太赫茲光譜范圍。

            2.特點介紹

            譜區(qū)擴展

            VERTEX 80/80v可通過配備各種光學選件,來覆蓋從遠紅外或太赫茲開始,經(jīng)中紅外和近紅外、可見光到紫外光的光譜區(qū)域。其預準直光學元件以及主動準直UltraScan™ 干涉儀,使切換和維護變得十分簡單。

            BMS-c:布魯克為VERTEX 80v真空光譜儀提供高精度分束器切換選件BMS-c。

            您可以在真空條件下,通過遠程控制自動更換多達4種不同類型的分束器?,F(xiàn)在,您無需泄光譜儀真空打開光學臺來手動切換分束器,就能測量從紫外/可見光到遠紅外/太赫茲的完整光譜范圍。

            全新附件

            布魯克為VERTEX 80/80v FTIR 系列光譜儀提供了全新的新型寬帶遠紅外/太赫茲分束器,拓展了分束器的選擇范圍。特別是在半導體和其它無機材料研究與開發(fā)應用中,由于全新的遠紅外固態(tài)分束器在單次測量中即可覆蓋從900 cm-1 5 cm-1左右的光譜范圍,并且能夠?qū)⒅屑t外與遠紅外/太赫茲波譜范圍連接起來,因此它還能帶來更多價值。

            光學分辨率

            標準配置下的 VERTEX 80 VERTEX 80v光譜儀可以提供優(yōu)于0.2 cm-1的切趾光譜分辨率,足以應對大多數(shù)常壓下氣相研究及室溫樣品測量。對于更高要求的低溫作業(yè),如晶態(tài)半導體材料或低壓氣相測試,VERTEX 80/80V系列光譜儀可以提供優(yōu)于0.06cm-1的**分辨率,這是商用臺式FTIR光譜儀所能達到的**分辨率。在可見光譜區(qū),高分辨光譜能夠展現(xiàn)出優(yōu)于300000:1的分辨能力(定義為波數(shù)/光譜分辨率ν/?ν)。

            多功能

            創(chuàng)新的光學設(shè)計使靈活性和拓展能力**的研究級真空FTIR光譜儀成為可能。借助真空光學臺,該系統(tǒng)在中紅外、近紅外和遠紅外區(qū)域具有**的靈敏度,而不必擔心那些非常弱的光譜特征因空氣中的水蒸氣吸收而被掩蓋。VERTEX 80v 真空光譜儀能為您帶來**的成果,例如在低至 10-3單層的納米科學研究領(lǐng)域。不僅如此,它的靈活性幾乎不受限制。光學臺的右側(cè)、前側(cè)和左側(cè)布有5個光束輸出端口,右側(cè)和后側(cè)有兩個光束輸入端口。因此,它可以同時進行連接:例如,后側(cè)輸入端口的同步輻射光源、右側(cè)輸出口的PMA50 偏振調(diào)制附件、右前側(cè)端口的光纖耦合模塊、左前側(cè)的輻射熱測量計探測器以及左側(cè)輸出端口的HYPERION 系列 FTIR 顯微鏡。

            VERTEX 80系列是要求苛刻的研究與開發(fā)應用的理想儀器。

            外接附件、光源和檢測器

            VERTEX 80/80v光譜儀配備了5個光束出口和兩個光束入口,可連接外部激光器和同步輻射光源。此外,借助外部測量附件、光源和檢測器,您可輕松升級光譜儀的光學系統(tǒng)。包括如下內(nèi)容:

            用于VCDPM-IRRASPMA 50偏振調(diào)制附件

            PL II 光致發(fā)光模塊

            RAM II FT-拉曼模塊和RamanScope III FT-拉曼顯微鏡

            TGA-FT-IR 聯(lián)用

            HYPERION 系列 FTIR 顯微鏡

            HYPERION 3000 FTIR 成像系統(tǒng)

            HTS-XT 高通量篩選eXTension

            IMAC 焦平面陣列宏觀成像附件

            外部樣品室XSA(真空或吹掃)

            外部真空密閉的超高真空腔室(UHV)

            真空PL/PT/PR測量單元

            低溫液氦或無低溫液體恒溫器

            帶中紅外或近紅外光纖探頭的光纖耦合單元(用于固體和液體)

            大型積分球

            自動進樣器

            外部遠紅外Hg光源

            ****的寬帶中紅外-遠紅外檢測器

            固態(tài)遠紅外/太赫茲分束器

            外部發(fā)射適配器

            外部高性能中紅外光源

            外部高性能可見光源

            外部真空4位檢測器腔(用于真空光學系統(tǒng))

            適用于遠紅外光譜范圍檢測的輻射熱測量計

            自動分束器切換單元(BMS-c)(真空光學系統(tǒng))

            3.應用介紹

            VERTEX 80和VERTEX 80v光譜儀是VERTEX系列的高端研究級儀器。其獨具創(chuàng)新的光學設(shè)計使得極為強大的臺式吹掃和真空光譜儀成為可能。它們能夠提供從紫外/可見光(50000 cm-1到遠紅外/太赫茲(5 cm-1)的廣泛光譜范圍、極高的光譜和時間分辨率以及**的靈活性。多功能VERTEX 80/80v 系統(tǒng)能夠通過其頂尖的技術(shù),為所有高端研究應用提供**的解決方案。

            研究與開發(fā)

            用于幅度/相位調(diào)制光譜的連續(xù)和步進掃描技術(shù)

            用于高時間分辨率實驗的快速、交叉和步進掃描技術(shù)(步進掃描 / 快速掃描 / 交叉掃描時間分辨光譜

            對周期性有序微觀材料(即超材料)進行表征

            用于氣體分析分辨率優(yōu)于0.06 cm-1的高分辨率光譜

            用于真空紅外光束裝置的系統(tǒng)化

            酶催化實驗的停流方法

            外接超高真空測量腔室

            用于電極表面和電解質(zhì)原位研究的FTIR 光譜電化學

            制藥

            測定分子的**構(gòu)型 (VCD)

            通過熱分析對藥物產(chǎn)品的穩(wěn)定性和揮發(fā)物含量進行表征 (TGA-FTIR)

            遠紅外譜區(qū)區(qū)分活性藥物成分多晶型

            聚合物和化學品

            遠紅外譜區(qū)識別聚合物復合材料中的無機填料

            聚合物動態(tài)和流變學研究

            測定揮發(fā)性化合物及表征熱分解過程 (TGA-FTIR)

            反應監(jiān)測和反應控制(中紅外光纖探頭)

            識別無機礦物質(zhì)和顏料

            表面分析

            薄膜和單分子層檢測與表征

            結(jié)合偏振調(diào)制進行表面分析 (PM-IRRAS)

            材料科學

            光學和高反射材料(光窗、反射鏡)的表征

            通過光聲光譜學(PAS)研究深色物質(zhì)和深度剖析

            材料的發(fā)射行為表征

            半導體

            硅晶圓中氧和碳含量的測定

            淺能級雜質(zhì)的低溫透射和光致發(fā)光(PL)測量進行質(zhì)量控制

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            售后服務

            10分

            易用性

            10分

            性價比

            10分
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