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以*小的投入獲得專家研究級的結果。Thermo Scientific™ K-Alpha™ X 射線光電子能譜儀 (XPS) 系統(tǒng)是一種完全集成式單色小光斑 XPS 系統(tǒng),具備深度剖析能力。先進的性能、更低的擁有成本、更高的易用性以及緊湊的尺寸,使 K-Alpha X 射線 XPS 系統(tǒng)成為多用戶環(huán)境的理想選擇。
旨在提高從研究應用到常規(guī)應用的生產率
K-Alpha 光譜儀的光譜分析性能大大提升。這個巨大的進步可實現(xiàn)更快的分析、更好的元素檢測以及獲得更高分辨率的數(shù)據以實現(xiàn)更好的化學狀態(tài)鑒定。
分析選項包括復合型離子源、一個用于將空氣敏感樣品從手套箱轉移到系統(tǒng)的真空傳遞模塊,以及用于收集 ARXPS 數(shù)據的傾斜模塊。配備 Thermo Scientific™ Avantage 數(shù)據系統(tǒng)(全面的表面分析軟件系統(tǒng)),K-Alpha+ 具有一系列的軟件功能,專為優(yōu)化數(shù)據解讀、數(shù)據報告和可用性而設計。K-Alpha XPS 系統(tǒng)可滿足經驗豐富的 XPS 分析員和新手的要求,將高性能單色化 XPS 和濺射深度剖析與智能自動化和直觀控制結合在一起。
強大的性能
可選面積能譜分析
濺射深度剖析
微聚焦單色器
快照采集
高分辨率化學狀態(tài)能譜分析
絕緣樣品分析
定量化學成像
無以倫比的易用性
采集——能譜、圖像、剖析、線掃描
解讀—— 元素和化學狀態(tài)鑒定
處理—— 定量、分峰擬合、實時剖析顯示、能譜圖像處理、PCA、相分析、TFA、NLLSF、PSF 扣除、光學/XPS 圖像疊加
報告—— 自動生成報告且可輕松導出到其他軟件包
控制——所有硬件都通過 Avantage 軟件界面進行控制
Avantage Indexer——數(shù)據存檔索引
審計跟蹤記錄
系統(tǒng)性能記錄
按需校準
完全的遠程操控
主要特點
分析器—— 180° 雙聚焦半球型分析器,配備 128 通道檢測器
X 射線源—— Al Ka 微聚焦單色器,可變光斑尺寸(30-400 μm,以 5 μm 為步長)
離子槍—— 能量范圍 100-4000 eV
荷電補償——雙束源
樣品處理——4 軸樣品臺、60 x 60 mm 樣品區(qū)域、20 mm **樣品厚度
真空系統(tǒng)——2 x 260 L/s 渦輪分子泵,用于進樣室和分析室
可選配件——Thermo Scientific™ MAGCIS™復合型離子源、真空傳遞模塊、用于 ARXPS 的傾斜模塊、樣品偏壓模塊。
暫無數(shù)據!