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產(chǎn)品特點(diǎn)：
? 非接觸式、不破壞樣品的光干涉式膜厚計(jì)。
? 高精度、高再現(xiàn)性測(cè)量紫外到近紅外波長(zhǎng)反射率光譜，分析多層薄膜厚度、光學(xué)常數(shù)（n：折射率，k消光系數(shù)）。
? 寬闊的波長(zhǎng)測(cè)量范圍。（190nm-1100nm）
? 薄膜到厚膜的膜厚測(cè)量范圍。（1nm~250μm）
? 對(duì)應(yīng)顯微鏡下的微距測(cè)量口徑。
產(chǎn)品規(guī)格：
標(biāo)準(zhǔn)型 | 厚膜專用型 | ||
| 膜存測(cè)量范圍 | 1nm~40μm | 0.8μm~250μm | |
波長(zhǎng)測(cè)量范圍 | 190~1100nm | 750~850nm | |
| 感光元件 | PDA 512ch（電子制冷） | CCD 512ch（電子制冷） | PDA 512ch（電子制冷） |
| 光源規(guī)格 | D2（紫外線）、12（可見(jiàn)光）、D2+12（紫外-可見(jiàn)光） | 12（可見(jiàn)光） | |
| 電源規(guī)格 | AC 100V±10V 750VA（自動(dòng)樣品臺(tái)規(guī)格） | ||
| 尺寸 | 4810（H）×770（D）×714（W）mm（自動(dòng)樣品臺(tái)規(guī)格之主體部分） | ||
| 重量 | 約96kg（自動(dòng)樣品臺(tái)規(guī)格之主體部分） | ||
應(yīng)用范圍：
FPD
-LCD、TFT、OLED（有機(jī)EL）
半導(dǎo)體、復(fù)合半導(dǎo)體
-矽半導(dǎo)體、半導(dǎo)體鐳射、強(qiáng)誘電、介電常數(shù)材料
資料儲(chǔ)存
-DVD、磁頭薄膜、磁性材料
光學(xué)材料
-濾光片、抗反射膜
平面顯示器
-液晶顯示器、膜膜電晶體、OLED
薄膜
-AR膜
其他
-建筑用材料
測(cè)量范圍：
玻璃上的二氧化鈦膜厚、膜質(zhì)分析
暫無(wú)數(shù)據(jù)！
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