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產品特點：
? 薄膜到厚膜的測量范圍、UV～NIR光譜分析。
? 高性能的低價光學薄膜測量儀。
? 藉由**反射率光譜分析膜厚。
? 完整繼承FE-3000高端機種90%的強大功能。
? 無復雜設定，操作簡單，短時間內即可上手。
? 非線性*小平方法解析光學常數(shù)(n:折射率、k:消光系數(shù))。
產品規(guī)格：
| 型號 | FE-300V | FE-300UV | FE-300NIR | |
| 對應膜厚 | 標準型 | 薄膜型 | 厚膜型 | 超厚膜型 |
| 樣品尺寸 | **8寸晶圓（厚度5mm） | |||
| 膜厚范圍 | 100nm~40μm | 10nm~20μm | 3μm~30μm | 15μm~1.5mm |
| 波長范圍 | 450nm~780nm | 300nm~800nm | 900nm~1600nm | 1470nm~1600nm |
| 膜厚精度 | ±0.2nm以內 | ±0.2nm以內 | - | - |
| 重復再現(xiàn)性(2σ) | 0.1nm以內 | 0.1nm以內 | - | - |
| 測量時間 | 0.1s～10s以內 | |||
| 測量口徑 | 約Φ3mm | |||
| 光源 | 鹵素燈 | UV用D2燈 | 鹵素燈 | 鹵素燈 |
| 通訊界面 | USB | |||
| 尺寸重量 | 280（W）×570（D）×350（H）mm，約24kg | |||
| 軟件功能 | ||||
| 標準功能 | 波峰波谷解析、FFT解析、*適化法解析、*小二乘法解析 | |||
| 選配功能 | 材料分析軟件、薄膜模型解析、標準片解析 | |||
應用范圍：
? 半導體晶圓膜(光阻、SOI、SiO2等)
? 光學薄膜(OC膜、AR膜、ITO、IZO膜等)
應用范例：
? PET基板上的DLC膜
? Si基板上的SiNx
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