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Film Sense FS-1™多波長(zhǎng)橢偏儀

型號(hào)：Film Sense FS-1™

Film Sense FS-1™多波長(zhǎng)橢偏儀采用壽命長(zhǎng) LED 光源和非移動(dòng) 式部件橢偏探測(cè)器，可在操作簡(jiǎn)單的緊湊型橢偏儀中實(shí)現(xiàn)快速和可 靠地薄膜測(cè)量。大多數(shù)厚度 0–1000 nm 的透明薄膜只需要簡(jiǎn)單的 1 秒測(cè)量，就 可以獲得非常精密和準(zhǔn)確的數(shù)據(jù)。

Film Sense FS-1™多波長(zhǎng)橢偏儀采用壽命長(zhǎng) LED 光源和非移動(dòng) 式部件橢偏探測(cè)器，可在操作簡(jiǎn)單的緊湊型橢偏儀中實(shí)現(xiàn)快速和可 靠地薄膜測(cè)量。

大多數(shù)厚度 0–1000 nm 的透明薄膜只需要簡(jiǎn)單的 1 秒測(cè)量，就 可以獲得非常精密和準(zhǔn)確的數(shù)據(jù)。還可以測(cè)量大多數(shù)樣品的光學(xué)常 數(shù)和其他薄膜特性。

Film Sense FS-1™多波長(zhǎng)橢偏儀 這款功能強(qiáng)大的多波長(zhǎng)橢偏儀，售價(jià)只是單一波長(zhǎng)橢偏儀

和光譜橢偏儀的中等水平。FS-1 可應(yīng)用于研究實(shí)驗(yàn)室，超凈間，原位工藝腔體以及工業(yè)質(zhì)量控制等諸多領(lǐng)域

主要特點(diǎn)

n 4 個(gè) LED 光源：藍(lán)色（465nm），綠色（525nm）， 黃色（580nm），紅色（635nm）

n 橢偏儀探測(cè)器中無可移動(dòng)部件

n **的膜厚精密性，大多數(shù)樣品精密度優(yōu)于 0.001nm（1 秒獲取數(shù)據(jù)），對(duì)于亞單原子薄膜精密度等于0.001nm

n 集成計(jì)算機(jī)，可實(shí)現(xiàn)對(duì)設(shè)備控制和數(shù)據(jù)分析，自帶 瀏覽器界面，可兼容任何現(xiàn)代計(jì)算機(jī)，筆記本或平 板電腦

優(yōu)勢(shì)

n 壽命長(zhǎng)（長(zhǎng)達(dá) 50，000 小時(shí)），更換 LED 燈便宜，校準(zhǔn)時(shí) 間短或無需 PM 程序

n 快速測(cè)量（10ms 內(nèi)獲得多波長(zhǎng)數(shù)據(jù)）和長(zhǎng)期性能穩(wěn)定

n 測(cè)量精確，只有橢偏儀可以實(shí)現(xiàn)

n 軟件設(shè)置和維護(hù)簡(jiǎn)單

標(biāo)準(zhǔn) FS-1 配置

n 65°入射角

n 手動(dòng)放置樣品和調(diào)節(jié)高度

n 樣品尺寸zui大直徑 200mm 和厚度 23mm

n 樣品偏轉(zhuǎn)范圍+/-20

n 樣品上光束尺寸 5 x 12 mm

n 結(jié)構(gòu)緊湊(180 x 400 mm) 和輕巧(4.8 kg)

性能

FS-1 多波長(zhǎng)橢偏儀擅長(zhǎng)測(cè)量膜厚范圍 0-1000nm 的透明單一薄 膜的厚度和折射率。下表列出的是針對(duì)各種不同樣品，包括多 層膜樣品，FS-1 獲得的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)量精密度和準(zhǔn)確性數(shù)據(jù)。

應(yīng)用領(lǐng)域

n 半導(dǎo)體行業(yè)：二氧化硅和氮化物，高介電和低介電 材料，非晶和多晶材料，硅薄膜，光刻膠

n 光學(xué)薄膜行業(yè)：高和低指數(shù)薄膜，如 SiO2， TiO2， Ta2O5， MgF2 等

n 顯示屏行業(yè)：TCO（如 ITO），非晶硅薄膜，有機(jī)薄 膜（OLED 技術(shù)）

n 數(shù)據(jù)存儲(chǔ)行業(yè)：寶石，如碳膜

n 工藝研發(fā)：原位表征薄膜沉積（速率和光學(xué)常數(shù)） VS 工藝條件，可兼容 MBE， MOCVD， ALD 和磁控濺射 等設(shè)備

n 化學(xué)和生物：在液體細(xì)胞實(shí)驗(yàn)中探測(cè)亞單原子層材 料吸附

n 工業(yè)：在線監(jiān)測(cè)和控制膜厚

In Situ 在線測(cè)量功能

n 亞單原子膜厚精密度

n 多工藝條件下測(cè)定薄膜光學(xué)常數(shù) n&k 和沉積速率，不 會(huì)破壞真空

n 監(jiān)測(cè)和控制多層膜結(jié)構(gòu)沉積

n FS-API 界面，外置軟件控制（兼容 LabVIEW™ ）

n 兼容大多數(shù)薄膜沉積技術(shù)：磁控濺射，ALD，MBE，MOCVD，電子束蒸發(fā)等

In Situ 在線測(cè)量

產(chǎn)品包括 FS-1™多波長(zhǎng)橢偏儀，帶緊湊自動(dòng) mapping 樣品 臺(tái)，可以實(shí)現(xiàn)快速，準(zhǔn)確和可靠的薄膜均勻性測(cè)量。

特點(diǎn)和參數(shù)

n 4 段波長(zhǎng)的橢偏數(shù)據(jù)（465， 525， 580， 635 nm），壽命長(zhǎng) 的 LED 光源，探測(cè)器內(nèi)無可移動(dòng)部件

n 可對(duì) 0-1000nm 透明薄膜進(jìn)行準(zhǔn)確的厚度測(cè)量

n 標(biāo)準(zhǔn)濃厚重復(fù)性 0.015 nm

n 集成聚焦探針，標(biāo)準(zhǔn)光斑尺寸 0.8 x 1.9 mm （其他尺寸 可選）

n 電動(dòng) Z 軸樣品臺(tái)自動(dòng)準(zhǔn)直

n 靈活掃描圖案編輯器

n 測(cè)量參數(shù)等值線繪制

聚焦光束選件

樣品上光束尺寸減小到 0.8 x 1.9 mm 或 0.3 x 0.7 mm

聚焦光束檢測(cè)

聚焦光束檢測(cè)系統(tǒng)包括一個(gè) FS-1 多波長(zhǎng)橢偏儀，帶光束聚焦光學(xué)器件和一個(gè)手動(dòng)位移臺(tái)。該系統(tǒng) 非常適合用于手動(dòng)檢測(cè)和在圖案化半導(dǎo)體晶圓上 進(jìn)行質(zhì)量控制測(cè)量。

可進(jìn)行科研測(cè)量，帶小尺寸光斑和相機(jī)成像功能

手動(dòng)位移臺(tái)，可容納 4’，5’，6’晶圓

樣品上光束尺寸 0.3 x 0.7 mm

樣品上光束位置視頻圖像

FS-XY150

n 標(biāo)準(zhǔn)晶圓 map 時(shí)間：60s（150mm 晶圓上取 49 個(gè)點(diǎn)）

n 結(jié)構(gòu)緊湊：600x600 mm， 16 kg

n 樣品臺(tái)行程（X，Y）：150 x 150 mm， 精度：5 μm

FS-RT300

n 標(biāo)準(zhǔn)晶圓 map 時(shí)間：90s（300mm 晶圓上取 49 個(gè)點(diǎn)）

n 結(jié)構(gòu)緊湊：400x500 mm， 22 kg

n 樣品臺(tái)行程：R (線性) ：150 mm， 精度：12 μm

n 角度（旋轉(zhuǎn)）360°，精度：0.1°