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        鎢燈絲掃描電子顯微鏡 SEM3200
        鎢燈絲掃描電子顯微鏡 SEM3200

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        面議

        型號

        鎢燈絲掃描電子顯微鏡 SEM3200

        品牌

        金埃譜

        產(chǎn)地

        北京

        樣本

        暫無
        國儀量子技術(合肥)股份有限公司

        白金會員

        |

        第17年

        |

        生產(chǎn)商

        工商已核實

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        核心參數(shù)
        • 探測器:

          -
        • 加速電壓:

          -
        • 電子槍:

          -
        • 電子光學放大:

          -
        • 光學放大:

          -
        • 分辨率:

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        SEM3200是一款高性能、應用廣泛的通用型鎢燈絲掃描電子顯微鏡。擁有出色的成像質(zhì)量、可兼容低真空模式、在不同的視場范圍下均可得到高分辨率圖像。
        大景深,成像富有立體感。豐富的擴展性,助您在顯微成像的世界中盡情探索。

        產(chǎn)品特點(*為選配件)

         低電壓

        碳材料樣品,低電壓下,穿透深度較小,可以獲取樣品表面真實形貌,細節(jié)更豐富。

        低電壓-碳高電壓-碳

        毛發(fā)樣品,在低電壓下,電子束輻照損傷減小,同時消除了荷電效應。

        低電壓-毛發(fā)高電壓-毛發(fā)

         低真空

        過濾纖維管材料,導電性差,在高真空下荷電明顯,在低真空下,無需鍍膜即可實現(xiàn)對不導電樣品的直接觀察。

        低真空高真空

         大視場

        生物樣品,采用大視場觀察,能夠輕松獲得瓢蟲整體形貌及頭部結(jié)構(gòu)細節(jié),展現(xiàn)跨尺度分析。

        低電壓-毛發(fā)高電壓-毛發(fā)

         導航&防碰撞

        光學導航

        想看哪里點哪里,導航更輕松
        標配倉內(nèi)攝像頭,可拍攝高清樣品臺照片,快速定位樣品。

        光學導航

        手勢快捷導航

        可通過雙擊移動、鼠標中鍵拖動、框選放大,進行快捷導航
        如框選放大:在低倍導航下,獲得樣品的大視野情況,可快速框選您感興趣的樣品區(qū)域,提高工作效率。

        手勢快捷導航手勢快捷導航

        防碰撞技術

        采取多維度的防碰撞方案:
        1. 手動輸入樣品高度,精準控制樣品與物鏡下端距離,防止發(fā)生碰撞;
        2. 基于圖像識別和動態(tài)捕捉技術,運動過程中對倉內(nèi)的畫面進行實時監(jiān)測;
        3. 硬件防碰撞,可在碰撞一瞬間停止電機,減少碰撞損傷。(*SEM3200A需選配此功能)

        防碰撞技術

         特色功能

        智能輔助消像散

        直觀反映整個視野的像散程度,通過鼠標點擊清晰處,可快速調(diào)節(jié)像散至**。

        智能輔助消像散操作圖智能輔助消像散結(jié)果圖

        自動聚焦

        一鍵聚焦,快速成像。

        自動聚焦操作圖自動聚焦結(jié)果圖

        自動消像散

        一鍵消像散,提高工作效率。

        自動消像散操作圖自動消像散結(jié)果圖

        自動亮度對比度

        一鍵自動亮度對比度,調(diào)出灰度合適圖像。

        自動亮度對比操作圖自動亮度對比結(jié)果圖

        多種信息同時成像

        SEM3200軟件支持一鍵切換SE和BSE的混合成像。可同時觀察到樣品的形貌信息和
        成分信息。

        多種信息同時成像BSE多種信息同時成像SE

        多種信息同時成像BSE+SE

        快速圖像旋轉(zhuǎn)

        拖動一條線,圖像立刻“擺正角度”。

        快速圖像旋轉(zhuǎn)操作圖快速圖像旋轉(zhuǎn)結(jié)果圖

         豐富拓展性

        掃描電子顯微鏡不僅局限于表面形貌的觀察,更可以進行樣品表面的微區(qū)成分分析。
        SEM3200接口豐富,除支持常規(guī)的二次電子探測器(ETD)、背散射電子探測器(BSED)、X射線能譜儀(EDS)外,也預留了諸多接口,如電子背散射衍射(EBSD)、陰極射線(CL)等探測器都可以在SEM3200上進行集成。

        背散射電子探測器
        二次電子成像和背散射電子成像對比

        背散射電子成像模式下,荷電效應明顯減弱,并且可以獲得樣品表面更多的成分信息。

        鍍層樣品:

        鍍層樣品SE鍍層樣品BSE

        鎢鋼合金樣品:

        鎢鋼合金樣品SE鎢鋼合金樣品BSE

        四分割背散射電子探測器——多通道成像

        探測器設計精巧,靈敏度高,采用4分割設計,無需傾斜樣品,可獲得不同方向的陰影像以及成分分布圖像。

        四個單通道的陰影像

        成分像

        能譜

        LED小燈珠能譜面分析結(jié)果。 

        電子背散射衍射

        鎢燈絲電鏡束流大,完全滿足高分辨EBSD的測試需求,能夠?qū)饘佟⑻沾?、礦物等多晶材料進行晶體取向標定以及晶粒度大小等分析。
        該圖為Ni金屬標樣的EBSD反極圖,能夠識別晶粒大小和取向,判斷晶界和孿晶,對材料組織結(jié)構(gòu)進行精確判斷。


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        10分

        性價比

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