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F-Sorb 2400CE品牌
金埃譜產(chǎn)地
中國(guó)樣本
暫無(wú)重現(xiàn)性：
1.5%儀器原理：
動(dòng)態(tài)色譜法分散方式：
/測(cè)量時(shí)間：
單點(diǎn)5分鐘測(cè)量范圍：
0.05 m2/g ---無(wú)上限誤差率：
/分辨率：
/看了比表面積孔徑分布儀的用戶又看了
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全自動(dòng)氮吸附氧化鋁干膠粉比表面積測(cè)試儀特點(diǎn)
A.比表面積測(cè)試儀結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)
1）簡(jiǎn)潔緊湊的外觀結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì),節(jié)省空間;可拆卸前面板防護(hù)罩,有效防止液氮濺灑安全隱患,同時(shí)降低環(huán)境因素對(duì)比表面測(cè)量過(guò)程的影響
2）采用全不銹鋼管路系統(tǒng),提高密封性能,有效防止氣體分子滲透導(dǎo)致的比表面測(cè)量誤差;同時(shí)不銹鋼管不存在老化問(wèn)題,可靠性和壽命大大提高
3）模塊化結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì),有利于根據(jù)用戶比表面測(cè)量需求按需配置及后期功能擴(kuò)展
B.比表面積測(cè)試儀控制系統(tǒng)
1）采用先進(jìn)的控制技術(shù),集中的多功能控制系統(tǒng),一體化電機(jī)螺桿升降系統(tǒng),比表面測(cè)量過(guò)程中液氮容器升降更平穩(wěn)
2）**的電橋平衡電路,大幅提高信號(hào)電壓靈敏度,同時(shí)實(shí)現(xiàn)信號(hào)零點(diǎn)漂移自動(dòng)平衡,有利于實(shí)現(xiàn)比表面測(cè)量的自動(dòng)化
3）完整的自動(dòng)化操作設(shè)計(jì),徹底實(shí)現(xiàn)比表面測(cè)量過(guò)程智能化,無(wú)需人工干預(yù)或看守,大大降低測(cè)定人員工作量,提高工作效率
C.比表面積測(cè)試儀數(shù)據(jù)采集及處理
1）高精度數(shù)據(jù)采集、信號(hào)放大及A/D轉(zhuǎn)換系統(tǒng)高度集成化,抗干擾能力強(qiáng),實(shí)時(shí)性高,有利于降低比表面儀的比表面測(cè)量過(guò)程受環(huán)境因素的影響
2）自主開(kāi)發(fā)的Windows兼容數(shù)據(jù)處理軟件,功能完善,用戶界面靈活定制,操作簡(jiǎn)單易懂;**的比表面數(shù)據(jù)處理模型,有效消除系統(tǒng)誤差,提高比表面測(cè)量精度
3）數(shù)據(jù)報(bào)告按需定制,多種形式的數(shù)據(jù)分析模式,方便用戶研究比表面測(cè)量結(jié)果;強(qiáng)大的分析測(cè)試數(shù)據(jù)歸檔保存,查詢系統(tǒng),有利于用戶數(shù)據(jù)管理
D.比表面積測(cè)試儀測(cè)試優(yōu)化
1）針對(duì)不同范圍樣品比表面測(cè)量要求,可"因地制宜"選擇合適的儀器參數(shù)設(shè)置,有利于提高比表面測(cè)量結(jié)果的準(zhǔn)確度
2）靈活的直接對(duì)比法比表面測(cè)量與BET法比表面測(cè)量轉(zhuǎn)換,簡(jiǎn)化操作流程,提高比表面測(cè)量效率
暫無(wú)數(shù)據(jù)！
摘要：硬脂酸鎂是制藥界廣泛應(yīng)用的藥物輔料，因?yàn)榫哂辛己玫目拐承?、增流性和?rùn)滑性在制劑生產(chǎn)中具有十分重要的作用，作為常用的藥用輔料潤(rùn)滑劑，比表面積對(duì)硬脂酸鎂有很大的影響，硬脂酸鎂的比表面積越大，其極性越
2022-07-05
陶瓷材料具有高熔點(diǎn)、高硬度、高耐磨性、耐氧化等一系列特點(diǎn)，被廣泛應(yīng)用于電子工業(yè)、汽車工業(yè)、紡織、化工、航空航天等國(guó)民經(jīng)濟(jì)的各個(gè)領(lǐng)域。陶瓷材料的物理性能很大程度上取決于其微觀結(jié)構(gòu)，是掃描電鏡重要的應(yīng)用領(lǐng)
2022-09-27
助力“土壤三普” | 氣體吸附技術(shù)在土壤膠體表征中的應(yīng)用 有關(guān)吸附等溫線中的滯后環(huán) 有關(guān)分子篩結(jié)構(gòu) 淺析BET BJH孔徑分布計(jì)算模型 有關(guān)BET測(cè)試中的常見(jiàn)問(wèn)題（三） 有關(guān)BET測(cè)試中的常見(jiàn)問(wèn)題（二） 有關(guān)BET測(cè)試中的常見(jiàn)問(wèn)題（一） 動(dòng)、靜態(tài)吸附法比較 淺析吸附方式中的t-plot 
4月1日，由湖南大學(xué)分析測(cè)試中心與國(guó)儀量子聯(lián)合主辦，深圳速普儀器有限公司、長(zhǎng)沙凱普樂(lè)科技有限責(zé)任公司協(xié)辦的“國(guó)儀電鏡論壇暨湖南大學(xué)電子顯微技術(shù)交流會(huì)”在湖南大學(xué)分析測(cè)試中心成功舉行。本次會(huì)議吸引了湖南
引言 為更好地激勵(lì)在科研領(lǐng)域辛勤探索、努力拼搏的科研工作者，同時(shí)助力光探測(cè)磁共振事業(yè)發(fā)展，國(guó)儀量子決定對(duì)使用本公司ODMR系列產(chǎn)品，發(fā)表高水平學(xué)術(shù)文章的科研工作者給予現(xiàn)金獎(jiǎng)勵(lì)。2025年OD
國(guó)儀量子電鏡在芯片金屬柵極刻蝕殘留檢測(cè)的應(yīng)用報(bào)告一、背景介紹 在芯片制造工藝中，金屬柵極刻蝕是構(gòu)建晶體管關(guān)鍵結(jié)構(gòu)的重要環(huán)節(jié)。精確的刻蝕工藝能夠確保金屬柵極的尺寸精度和形狀完整性，對(duì)芯片的性能
國(guó)儀量子電鏡在芯片后道 Al 互連電遷移空洞檢測(cè)的應(yīng)用報(bào)告一、背景介紹 隨著芯片集成度不斷攀升，芯片后道 Al 互連技術(shù)成為確保信號(hào)傳輸與芯片功能實(shí)現(xiàn)的關(guān)鍵環(huán)節(jié)。在芯片工作時(shí)，Al 互連導(dǎo)線
國(guó)儀量子電鏡在芯片鈍化層開(kāi)裂失效分析的應(yīng)用報(bào)告一、背景介紹在半導(dǎo)體芯片制造領(lǐng)域，芯片鈍化層扮演著至關(guān)重要的角色。它作為芯片的 “防護(hù)鎧甲”，覆蓋在芯片表面，隔絕外界環(huán)境中的濕氣、雜質(zhì)以及機(jī)械應(yīng)力等不利
比表面積孔徑分布儀的工作原理介紹？比表面積孔徑分布儀的使用方法？比表面積孔徑分布儀多少錢(qián)一臺(tái)？比表面積孔徑分布儀使用的注意事項(xiàng)比表面積孔徑分布儀的說(shuō)明書(shū)有嗎？比表面積孔徑分布儀的操作規(guī)程有嗎？比表面積孔徑分布儀的報(bào)價(jià)含票含運(yùn)費(fèi)嗎？比表面積孔徑分布儀有現(xiàn)貨嗎？比表面積孔徑分布儀包安裝嗎？
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