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            Advance Riko掃描熱探針塞貝克導熱系數(shù)儀
            Advance Riko掃描熱探針塞貝克導熱系數(shù)儀

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            Advance Riko

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            凱戈納斯儀器商貿(mào)(上海)有限公司

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            SPTM-1000系統(tǒng)可同時測量二位的塞貝克系數(shù)和導熱系數(shù),分辨率可達20μm。

             

            應(yīng)用:

            1. 簡單測量熱電材料的性質(zhì);

            2. 測量功能梯度材料熱性質(zhì)分布;

            3. 測量無機材料、高分子材料和晶體材料的同質(zhì)性;

            4. 評估材料的缺陷(印刷基板,多層基板等);

             

            特點:

            分辨率可達20um;

            使用參照材料可校準熱導率的精度;

             

            設(shè)備參數(shù):

            型號:

            SPTM-1000

            測試內(nèi)容:

            塞貝克系數(shù),導熱系數(shù)

            局部分辨率:

            20μm

            溫度范圍:

            室溫±5℃

            樣品尺寸:

            Max. 20 mm square x 5 mm thickness

            測試氣氛:

            空氣

             

            實例:

            (Bi1-xSbx) 2Te3(0.5<x<1) :塞貝克系數(shù)、導熱系數(shù)分布、不同組分的塞貝克系數(shù)、導熱系數(shù);


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            性價比

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