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參考價(jià)格
500萬(wàn)以上型號(hào)
TESCAN TIMA-X FEG(GM)品牌
產(chǎn)地
歐洲樣本
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| 二次電子圖象分辨率 | 1.2nm @ 30keV | 放大倍數(shù) | 1~1,000,000 x |
| 背散射電子圖像分辨率 | 2.0nm @ 15keV | 加速電壓 | 0.2~30 kV |
| 產(chǎn)地屬性 | 歐洲 | 儀器種類 | 場(chǎng)發(fā)射 |
| 價(jià)格范圍 | 500萬(wàn)-700萬(wàn) |
TESCAN綜合礦物分析儀（TIMA）是一款新型的自動(dòng)礦物分析的掃描電子顯微鏡，適用于采礦和礦物加工行業(yè)。TIMA可以對(duì)塊狀、薄片或拋光切片樣品進(jìn)行自動(dòng)礦產(chǎn)豐度分析、粒度解離分析、礦物組合分析和顆粒尺寸分析。
TIMA的應(yīng)用范圍很寬，包括礦石性質(zhì)、工藝優(yōu)化、修復(fù)、貴金屬和稀土的尋找等。TESCAN的獨(dú)特技術(shù)是基于一個(gè)完全集成的EDX系統(tǒng)執(zhí)行快速的全光譜掃描。 SEM與EDX硬件的一體化技術(shù)提供了****的數(shù)據(jù)采集速度，進(jìn)而得到快速、準(zhǔn)確和可靠的結(jié)果。
TESCAN TIMA基于MIRA肖特基場(chǎng)發(fā)射或者VEGA鎢燈絲掃描電子顯微鏡。MIRA鏡筒的特殊設(shè)計(jì)（電子槍的恒真空與隔絕閥）提高了發(fā)射的穩(wěn)定性和鎢燈絲的使用壽命。該系統(tǒng)提供高真空模式為標(biāo)準(zhǔn)，低真空模式為選配。
大 樣品室、由計(jì)算機(jī)控制的超快樣品臺(tái)、礦物樣品支持器的特殊設(shè)計(jì)。樣品臺(tái)可以同時(shí)容納7塊直徑**為30mm的樣品。樣品臺(tái)內(nèi)可放入直徑25 mm至32 mm的樣品。樣品臺(tái)有EDX/BSE校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)、鉑Faraday筒（BSE信號(hào)校準(zhǔn)）與錳、 銅、 石英、碳和金元素（系統(tǒng)性能檢查）。標(biāo)準(zhǔn)校準(zhǔn)的元素可以根據(jù)客戶要求定制。
配件：
二次電子探頭
背散射電子探頭
探針電流測(cè)量
壓差式防碰撞報(bào)警裝置
可觀察樣品室內(nèi)部的紅外線攝像頭等，各種配件可供選擇
暫無(wú)數(shù)據(jù)！
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