X射線熒光光譜測定石墨烯粉體中的雜質(zhì)元素

編號：FTJS07277

篇名：X射線熒光光譜測定石墨烯粉體中的雜質(zhì)元素

作者：田國蘭 陳嵐 劉忍肖 葛廣路

關(guān)鍵詞： 石墨烯粉體 雜質(zhì)元素 快速無損

機構(gòu)： 國家納米科學中心中國科學院納米標準與檢測重點實驗室

摘要： 石墨烯粉體是我國已具備規(guī)�；�生產(chǎn)能力的主要石墨烯材料,針對其關(guān)鍵物理化學特性建立準確可靠的測量方法極為重要.開發(fā)了一種利用X射線熒光光譜(XRF)技術(shù)對石墨烯粉體中雜質(zhì)進行快速、無損分析的檢測方法,可實現(xiàn)對石墨烯粉體產(chǎn)品質(zhì)量的便捷初判.研究了石墨烯粉體樣品的不同測試形態(tài),并通過將XRF測量結(jié)果與電感耦合等離子體-原子發(fā)射光譜(ICP-OES)、電感耦合等離子體-質(zhì)譜(ICP-MS)和X射線能譜(EDX)等檢測技術(shù)的測量結(jié)果進行對比,結(jié)果表明XRF可對石墨烯粉體樣品中的非金屬雜質(zhì)S、Cl、Si、P及金屬雜質(zhì)Na、Mg、Ca、Fe、Cu、Ti、W、Cr等可靠檢出,可實現(xiàn)對石墨烯粉體中雜質(zhì)元素的快速、簡便、無損低成本的定量測量.