基于缺陷結(jié)構(gòu)的石墨烯納米帶電輸運(yùn)特性研究

編號：CPJS06255

篇名：基于缺陷結(jié)構(gòu)的石墨烯納米帶電輸運(yùn)特性研究

作者：馬越 夏蔡娟

關(guān)鍵詞： 石墨烯納米帶 缺陷結(jié)構(gòu) 電子輸運(yùn) 非平衡格林函數(shù)

機(jī)構(gòu)： 西安工程大學(xué)理學(xué)院

摘要： 采用密度泛函理論與非平衡格林函數(shù)相結(jié)合的第一性原理方法,研究具有缺陷結(jié)構(gòu)的鋸齒型石墨烯納米帶電輸運(yùn)性質(zhì)。系統(tǒng)地分析不同形狀(菱形和正方形)以及不同邊長的缺陷對其電輸運(yùn)性質(zhì)影響,為石墨烯分子器件電輸運(yùn)特性的調(diào)控設(shè)計提供有效的理論支持。研究表明,缺陷對石墨烯納米帶的電輸運(yùn)性質(zhì)能起到明顯的調(diào)制作用。在低偏壓下完美的石墨烯納米帶的電流高于具有缺陷結(jié)構(gòu)的石墨烯納米帶,而在高偏壓下具有缺陷結(jié)構(gòu)的石墨烯納米帶的電流則高于完美的石墨烯納米帶。對于菱形缺陷,邊長越大電流越大;對于正方形缺陷,邊長越大電流越小。同時,四原子邊緣菱形缺陷結(jié)構(gòu)在偏壓區(qū)間1.0~1.5V內(nèi)顯示出了負(fù)微分電阻效應(yīng)。