納米SiO2 在低熔點(diǎn)熔鹽中的分散對(duì)其比熱容的影響

編號(hào)：NMJS06425

篇名：納米SiO2 在低熔點(diǎn)熔鹽中的分散對(duì)其比熱容的影響

作者：吳玉庭[1,2] ;張璐迪[1,2] ;馬重芳[1,2] ;李英[1,2]

關(guān)鍵詞： 熔鹽 納米流體 超聲振蕩 比熱容 溫度 頻率

機(jī)構(gòu)： [1]北京工業(yè)大學(xué)傳熱強(qiáng)化與過(guò)程節(jié)能教育部重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室, 北京100124; [2]北京工業(yè)大學(xué)傳熱與能源利用北京市重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室, 北京100124

摘要： 為提高低熔點(diǎn)熔鹽Ca(NO3 )2 鄄KNO3 鄄NaNO3 鄄LiNO3 的比熱容,采用超聲振蕩法將低熔點(diǎn)熔鹽與30 nm 的SiO2 納米粒子復(fù)合制備出低熔點(diǎn)熔鹽納米流體,研究了納米粒子對(duì)低熔點(diǎn)鹽比熱容的影響及制備過(guò)程中影響納米粒子分散的關(guān)鍵因素:超聲振蕩時(shí)間和超聲振蕩頻率. 采用同步熱分析儀(DSC)測(cè)量熔鹽比熱容;采用掃描電鏡表征低熔點(diǎn)熔鹽納米流體的微觀表面結(jié)構(gòu),觀察納米粒子分布情況. 研究結(jié)果表明:分散均勻的SiO2 納米粒子可以提高低熔點(diǎn)鹽納米流體的比熱容,納米熔鹽比熱容平均值達(dá)到1郾86 J/ (g·K)左右,在200 ~ 350 益溫度范圍內(nèi),比熱容提高率為14% ~22%,并通過(guò)實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證了超聲波分散法是制備熔鹽納米流體的一種穩(wěn)定可靠的方法.