堿處理后纖維素納米晶體的XRD、FT-IR和XPS分析

編號：NMJS06305

篇名：堿處理后纖維素納米晶體的XRD、FT-IR和XPS分析

作者：金二鎖 ;楊芳 ;朱陽陽 ;朱文遠(yuǎn) ;宋君龍

關(guān)鍵詞： 纖維素納米晶體 X-射線衍射 X-射線光電子能譜 紅外 晶型

機構(gòu)： 南京林業(yè)大學(xué)江蘇省制漿造紙科學(xué)與技術(shù)重點實驗室,江蘇南京210037

摘要： 近年來，纖維素納米晶體被廣泛用于生物、醫(yī)藥、材料及纖維素機理性研究中，而理解纖維素在堿性環(huán)境中變化對其有效利用至關(guān)重要。本文對不同堿濃度處理后的纖維素納米晶體樣品利用X-射線衍射（XRD）、傅立葉變換紅外光譜（FT-IR）和X-射線光電子能譜（XPS）進(jìn)行表面性質(zhì)研究。研究結(jié)果表明納米纖維素晶體樣品在10％NaOH濃度附近開始發(fā)生晶型轉(zhuǎn)化，并且在完全轉(zhuǎn)化為纖維素II后表面羥基含量減少，O／C比例減少。該研究結(jié)論對解釋纖維素酶在纖維素晶型結(jié)構(gòu)的轉(zhuǎn)變后的吸附變化以及纖維素納米晶體的利用具有指導(dǎo)意義。