基于SEM圖像的碳納米管薄膜均勻性表征方法研究

編號：FTJS06738

篇名：基于SEM圖像的碳納米管薄膜均勻性表征方法研究

作者：陳彥海 ;張大國 ;聶鵬

關(guān)鍵詞：噴射吸濾 碳納米管薄膜 SEM圖像 多重分形譜 均勻性

機構(gòu)： 沈陽航空航天大學(xué)機電工程學(xué)院,遼寧沈陽110136

摘要： 將多壁碳納米管綜合了超聲處理和高速離心等分散工藝單分散后,采用噴射吸濾法制備碳納米管薄膜,并研究超聲時間對薄膜分布均勻性的影響�；�于多重分形理論和SEM圖像分析多壁碳納米管薄膜的形態(tài)學(xué)特征。碳納米管薄膜的分布均勻性主要取決于多重分形譜寬度Δa和最大、最小概率子集維數(shù)的差別Δf等分形參數(shù)。多重分形分析彌補了傳統(tǒng)的表面評價和統(tǒng)計分析的不足。該碳納米管薄膜均勻性表征方法將為碳納米管薄膜的制備提供指導(dǎo)。