三種不同表面活性劑對(duì)羥基磷灰石納米顆粒的表面修飾的比較

編號(hào)：NMJS06103

篇名：三種不同表面活性劑對(duì)羥基磷灰石納米顆粒的表面修飾的比較

作者：李沃[1,2] ;黃東[1] ;胡霞[1] ;黃蘇萍[3] ;孔高茵[2] ;劉際童[2]

關(guān)鍵詞：納米復(fù)合物 羥基磷灰石 CTAB PEG2000 人血清 表面修飾

機(jī)構(gòu)： [1]中南大學(xué)湘雅三醫(yī)院,湖南長(zhǎng)沙410013; [2]湖南省人民醫(yī)院,湖南長(zhǎng)沙410005; [3]中南大學(xué)粉末冶金研究院,湖南長(zhǎng)沙410083

摘要： 目的：本研究旨在通過不同方法修飾羥基磷灰石納米顆粒并檢測(cè)其穩(wěn)定性及分散性。方法：首先采用水合熱合成法制備羥基磷灰石納米顆粒,然后用透射電鏡（TEM）和場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡（SEM）對(duì)其表面形態(tài)結(jié)構(gòu)進(jìn)行表征。我們首次用溴化十六烷三甲基銨（CTAB）,PEG2000和人血清對(duì)羥基磷灰石納米顆粒通過共價(jià)結(jié)合或表面吸附的方式進(jìn)行表面嫁接,并利用透射電鏡,傅里葉紅外光譜（FT-IR）和X射線衍射（XRD）對(duì)新合成的這三種納米羥基磷灰石復(fù)合物的形貌,結(jié)構(gòu)和晶粒粒徑進(jìn)行表征。對(duì)這三種羥基磷灰石納米顆粒懸浮液的時(shí)間沉降曲線進(jìn)行分析。在分散性上通過檢測(cè)這三種羥基磷灰石復(fù)合物懸浮液在不同pH值下的Zeta電位并繪制Zeta-pH曲線。結(jié)果：我們發(fā)現(xiàn)CTAB修飾的羥基磷灰石納米顆懸浮液的懸浮穩(wěn)定性最佳,其次是PEG2000,最后是人血清。在pH=7.0時(shí),CTAB修飾的羥基磷灰石納米顆粒的zeta電位值是25.68 m V,而PEG2000修飾的Zeta電位是4.32m V,人血清修飾的Zeta電位是-13.23m V。結(jié)論：CTAB表面修飾的羥基磷灰石納米顆粒相對(duì)于其它兩種表面活性劑復(fù)合物具有更好的分散性和懸浮穩(wěn)定性,與DNA/RNA結(jié)合能力更強(qiáng)。本課題的結(jié)果給羥基磷灰石納米顆粒載體的應(yīng)用提供了一種新的選擇,有望利用親和力更高的基因載體實(shí)現(xiàn)基因治療,具有廣闊的應(yīng)用前景。