X射線熒光光譜法分析電解質(zhì)中氧化鋁

編號：CSJS00097

篇名：X射線熒光光譜法分析電解質(zhì)中氧化鋁

作者：耿昭； 張亞平；

關(guān)鍵詞：X射線熒光光譜法； 鋁電解質(zhì)； 三氧化二鋁；

機構(gòu)： 青海橋頭鋁電有限股份公司中心化驗室；

摘要： 采用粉末壓片法建立了X射線熒光光譜法測定鋁電解質(zhì)中氧元素含量的方法,通過測定氧元素來計算三氧化二鋁的含量;重點討論了樣品前處理、粉料顆粒度、保壓時間、壓片壓力等對于超輕元素的粉末壓片制樣的影響因素,同時采用二點法對氧元素進行背景扣除,運用固定α系數(shù)法校正基體效應(yīng);方法的相對標(biāo)準(zhǔn)偏差RSD低于2.00%,方法的檢出限為163mg/kg,相對分析誤差控制在3%以下,誤差控制在電解質(zhì)中氧化鋁質(zhì)量控制允許的范圍之內(nèi)。方法用來分析鋁電解質(zhì)中氧化鋁組分含量,結(jié)果準(zhǔn)確,符合生產(chǎn)要求。方法簡單、快速、靈敏,能夠作為鋁電解質(zhì)中氧化鋁的有效檢測手段。