ICP-MS法測定釓鎂合金中稀土雜質(zhì)

編號：FTJS04116

篇名：ICP-MS法測定釓鎂合金中稀土雜質(zhì)

作者：張翼明； 周凱紅； 張立鋒

關(guān)鍵詞：ICP-MS； 釓鎂； 稀土雜質(zhì)

機(jī)構(gòu)： 包頭稀土研究院； 稀土冶金及功能材料國家工程研究中心

摘要： 采用ICP-MS法直接測定釓鎂合金中12種稀土雜質(zhì)元素,實驗對測定質(zhì)量數(shù)、樣品酸度及基體濃度進(jìn)行了選擇,考察了以Rh、In、Cs和Tl為內(nèi)標(biāo)元素對儀器信號漂移和基體效應(yīng)的校正效果,標(biāo)加回收率為93%~108%,根據(jù)產(chǎn)品要求,確定各元素測定下限為0.0010%。對三個樣品進(jìn)行測試,RSD在1.00%~7.17%之間,測定范圍為:0.0010%~0.5%。