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            大塚電子(蘇州)有限公司
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            產(chǎn)品詳情
            低相位差高速檢查設(shè)備 RE-200
            低相位差高速檢查設(shè)備 RE-200的圖片
            參考報價:
            面議
            品牌:
            大塚電子
            關(guān)注度:
            1927
            樣本:
            暫無
            型號:
            RE-200
            產(chǎn)地:
            江蘇
            信息完整度:
            典型用戶:
            暫無
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            認證信息
            高級會員 第 2
            名 稱:大塚電子(蘇州)有限公司
            認 證:工商信息已核實
            訪問量:144734
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            產(chǎn)品信息

            特 點

            ? 可測從0nm開始的低(殘留)相位差
            ? 光軸檢出同時可高速測量相位差(Re.)
            (相當于世界*快速的0.1秒以下來處理)
            ? 無驅(qū)動部,重復再現(xiàn)性高
            ? 設(shè)置的測量項目少,測量簡單
            ? 測量波長除了550nm以外,還有各種波長
            ? Rth測量、全方位角測量
            (需要option的自動旋轉(zhuǎn)傾斜治具
            ? 通過與拉伸試驗機組合,可同時評價膜的偏光特性和光弾性
             (本系統(tǒng)屬特注。)

            測量項目

            ? 相位差(ρ[deg.], Re[nm])
            ? 主軸方位角(θ[deg.])
            ? 橢圓率(ε)?方位角(γ)
            ? 三次元折射率(NxNyNz)

            用 途

            ? 位相差膜、偏光膜、橢圓膜、視野角改善膜、各種功能性膜
            ? 樹脂、玻璃等透明、非均質(zhì)材料(玻璃有變形,歪曲等)

            原 理

            ? 什么是RE-200
            ? RE-200是光子結(jié)晶素子(偏光素子)、CCD相機構(gòu)成的偏光計測模塊和透過的偏光光學系相組合,可高速且高精度的測量位相差(相位差)、及主軸方位角。CCD相機1次快門獲取偏光強度模式,沒有偏光子旋轉(zhuǎn)的機構(gòu),系統(tǒng)整體上是屬于小型構(gòu)造,長時間使用也能維持穩(wěn)定的性能。

            仕 樣

            型號

            RE series

            樣品尺寸

            *小10×10mm ~**100×100mm

            測量波長

            550nm (標準仕樣)※1

            相位差測量范圍

            約0nm ~約1μm

            軸檢出重復精度

            0.05°(at 3σ) ※2

            檢出器

            偏光計測模塊

            測量光斑直徑

            2.2mm×2.2mm

            光源

            100W 鹵素燈或 LED光源

            本體?重量

            300(W) × 560(H) ×430(D) mm 、約20kg

             Option
            ? Rth測量、全方位角測量※治具本體(旋轉(zhuǎn):180°, 傾斜:±50°)
            ? 動旋轉(zhuǎn)傾斜治具


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