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    美國貝克曼庫爾特公司隆重推出的Delsa Nano系列Zeta 電位及粒度分析儀，應(yīng)用PCS光子相關(guān)光譜法以及最新FST專利技術(shù)，是一款新型的具有極高的動態(tài)測量范圍的多用途的測量儀。不但擁有獨(dú)家的固體表面Zeta電位分析功能，同時擁有獨(dú)一無二的可進(jìn)行高濃度樣品的Zeta電位測量功能。完全符合ISO22412國際標(biāo)準(zhǔn)的Delsa Nano系列為目前功能最強(qiáng)大的Zeta電位納米粒度分析儀。
     Delsa Nano系列將于近期登陸中國，預(yù)計(jì)在10月份的北京BCEIA上各界朋友和客戶將見到其真容，先睹為快、不容錯過。
    Delsa Nano最小可測量粒徑低至0.6nm。采用了高靈敏度測量技術(shù)的Delsa Nano可同時滿足高濃度樣品與極低濃度樣品的Zeta電位以及納米粒度的測量要求。濃度動態(tài)范圍達(dá)4個數(shù)量級（0.001 % ~ 40 %）。特殊樣品不再需要預(yù)先稀釋即可直接測量。儀器同時備有豐富的可選件，如高濃度樣品池、標(biāo)準(zhǔn)樣品池、一次性樣品池、微量樣品池以及PH滴定裝置等。Delsa Nano為納米技術(shù)研究的提供最新型的分析工具。