參考價(jià)格
100-150萬元型號(hào)
AFM5500M品牌
日立產(chǎn)地
日本樣本
暫無分辨率：
·重現(xiàn)性：
·儀器原理：
圖像分析分散方式：
·測(cè)量時(shí)間：
·測(cè)量范圍：
直徑≤100mm,厚度≤20mm看了全自動(dòng)型原子力顯微鏡的用戶又看了
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參考報(bào)價(jià)：
面議 | 型號(hào)： | AFM5500M | |
| 品牌： | 日立 | 產(chǎn)地： | 日本 |
| 樣本： | 【暫無】 | 信息完整度： |   |
| 典型用戶： | 0 |
| 儀器種類： | 原子力顯微鏡 | 樣品臺(tái)移動(dòng)范圍： | 100mm*100mm |
| 樣品尺寸： | 直徑≤100mm,厚度≤20mm | 定位檢測(cè)噪聲： | ≤ 0.04 nm (High-resolution mode) |
| 價(jià)格區(qū)間： | 產(chǎn)地類別： | 進(jìn)口儀器 |
1. 自動(dòng)化功能
高度集成自動(dòng)化功能追求高效率檢測(cè)
降低檢測(cè)中的人為操作誤差
2. 可靠性
排除機(jī)械原因造成的誤差
大范圍水平掃描
采用管型掃描器的原子力顯微鏡，針對(duì)掃描器圓弧運(yùn)動(dòng)所產(chǎn)生的曲面，通常通過軟件校正方式獲得平面數(shù)據(jù)。但是，用軟件校正方式不能完全消除掃描器圓弧運(yùn)動(dòng)的影響，圖片上經(jīng)常發(fā)生扭曲效果。
AFM5500M搭載了**研發(fā)的水平掃描器，可實(shí)現(xiàn)不受圓弧運(yùn)動(dòng)影響的準(zhǔn)確測(cè)試。
高精角度測(cè)量
普通的原子力顯微鏡所采用的掃描器，在豎直伸縮的時(shí)候，會(huì)發(fā)生彎曲（crosstalk）。這是圖像在水平方向產(chǎn)生形貌誤差的直接原因。
AFM5500M中搭載的全新掃描器，在豎直方向上不會(huì)發(fā)生彎曲（crosstalk） ，可以得到水平方向沒有扭曲影響的正確圖像。
3. 融合性
親密融合其他檢測(cè)分析方式
通過SEM－AFM的共享坐標(biāo)樣品臺(tái)，可實(shí)現(xiàn)在同一視野快速的觀察分析樣品的表面形貌，結(jié)構(gòu)，成分，物理特性等。
通過分析AFM圖像可以判斷，SEM對(duì)比度表征石墨烯層的厚薄。
石墨烯層數(shù)不同導(dǎo)致表面電位（功函數(shù)）的反差。
SEM圖像對(duì)比度不同，可以通過SPM的高精度3D形貌測(cè)量和物理特性分析找到其原因。
與其他顯微鏡以及分析儀器聯(lián)用正在不斷開發(fā)中。
高度集成自動(dòng)化功能追求高效率檢測(cè)
降低檢測(cè)中的人為操作誤差
排除機(jī)械原因造成的誤差
親密融合其他檢測(cè)分析方式
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