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薄膜硅涂布量測試儀YL-X300

離型膜硅涂布量測試儀 越聯(lián)儀器生產(chǎn)

設備的測試原理：

YL-X300通過軟件程序控制，讓X射線發(fā)生路產(chǎn)生適合的X射線去激發(fā)測試薄膜材料中的S或者其他元素，被X射線激發(fā)后變?yōu)椴环€(wěn)定態(tài)，高能層的電子會躍遷到空穴并同時釋放特定能量被探測器接收，因每個元素都有自已特定的能量特征線，通過探測器的識別，計算機軟件的計算，即可準確識別該元素，并計算出含量。

YL-X300采用了大面積的晶體硅漂移探測器，分辨率能夠達到125eV，能分辨A(鋁)元素和Si(硅)元素。

設備優(yōu)勢及特點：

1、測試采用 射線熒光光譜原理，測試過程無需耗材；

2、光管垂直照射，硅元素性能得到更強激發(fā)；

3、測試下限好，可準確測量0.1g/m的涂硅量；’

4、采用大面積硅漂移探測器，測試結果極其準確；

5、快速采用新的模型算法，大大提高了輕元素的測量穩(wěn)定性；

6、配置高清液晶顯示器，測試過程和測試結果一目了然；

7、設備集成多個usb接口。數(shù)據(jù)和通訊傳輸滿足多種要求；

8、空氣光路的內部環(huán)境得到顯著優(yōu)化，大氣環(huán)境一樣可以直接測試；

9、一鍵測試，操作簡單智能，測試過程使用時間更短，結果更準確。

應用方向及領域：

1、各種薄膜、離型膜、淋膜!I等硅油涂布量的測定；

2、各種薄膜生產(chǎn)過程中Si、AI元素等比例量的測定；

3、電子產(chǎn)品S硫化物的殘留余量的測定；

4、電子產(chǎn)品保護膜硅油殘余量的測定。