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TDR阻抗測(cè)試儀-ZK2130(特性阻抗測(cè)試儀)
用途
TDR阻抗測(cè)試儀是采用時(shí)域反射技術(shù)設(shè)計(jì)的,能夠批量化、自動(dòng)化、快速、準(zhǔn)確測(cè)試被測(cè)件的特性阻抗,并提供測(cè)試波形分析、統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)分析、自動(dòng)記錄測(cè)試數(shù)據(jù)、自動(dòng)出具檢測(cè)報(bào)告并打印等功能。適用于剛性/撓性電路板、高頻電纜、高頻線材制造廠商的研發(fā)、設(shè)計(jì)、生產(chǎn)及品管單位。和傳統(tǒng)TDR取樣示波器相比,增加了針對(duì)線路板、電纜行業(yè)的標(biāo)準(zhǔn)化、自動(dòng)化測(cè)試和分析軟件。為特性阻抗測(cè)試提供了一套快速、準(zhǔn)確、標(biāo)準(zhǔn)和經(jīng)濟(jì)的解決方案。
特征
1、批量化、自動(dòng)化測(cè)試,操作簡(jiǎn)單、測(cè)試快捷,適合線纜工廠快速測(cè)試。
2、Windows操作環(huán)境,友好的人機(jī)界面,自動(dòng)出具測(cè)試結(jié)果。
3、提供單端和差分阻抗測(cè)試。
4、支持2通道、4通道測(cè)試。
5、快速定制測(cè)試任務(wù)及批量化、自動(dòng)化測(cè)試功能。
6、集成測(cè)試文件編輯器,快速設(shè)置測(cè)試參數(shù)。
7、自動(dòng)記錄測(cè)試數(shù)據(jù),生成報(bào)表并保存在磁盤(pán)上。
8、顯示測(cè)試波形、統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)分析及測(cè)試結(jié)果。
9、打印測(cè)試報(bào)表、波形及測(cè)試結(jié)果。
10、符合1394a/b、DiiVA、DP、HDMI1.4、SATA I/II、USB2.0/3.0等各種標(biāo)準(zhǔn)的特性阻抗測(cè)試要求
技術(shù)參數(shù)
項(xiàng)目規(guī)格
型號(hào):TDR-ZK2130
測(cè)量功能:?jiǎn)味俗杩?、差分阻抗、共模阻抗差分延遲、差分對(duì)內(nèi)延遲差、差分對(duì)間延遲差
控制阻抗測(cè)試范圍: 單端10Ω-150Ω
差分:20Ω-300Ω
測(cè)量精度: 50Ω±1%
重復(fù)測(cè)量精度 : 50Ω±0.5%
測(cè)量長(zhǎng)度 : 0.04m~2m
水平顯示分辨率 : 0.2mm
垂直顯示分辨率 : 0.03Ω
測(cè)試方法 : 時(shí)域反射法(TDR)
TDR 帶寬 : >3 GHZ
取樣示波器帶寬: >5GHz
入射脈沖上升時(shí)間:<80ps
TDR采樣時(shí)間分辨率: 10ps
數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)分析功能 :SPC功能模塊(SPC)
暫無(wú)數(shù)據(jù)!