誤差率:
0.03分辨率:
0.001重現(xiàn)性:
0.001儀器原理:
靜態(tài)容量法分散方式:
物理分散方法測量時(shí)間:
根據(jù)樣品確定時(shí)長測量范圍:
0.35-500nm看了比表面積測試及孔徑分析儀的用戶又看了
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產(chǎn)品簡介:BSD-PS1型比表面積及孔徑分析儀,具有2個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站,1個(gè)樣品分析站。測試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1%。測試范圍:比表面0.0001m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國內(nèi)知名品牌,遠(yuǎn)銷海外,獲得多項(xiàng)國內(nèi)技術(shù)**,技術(shù)國際**。
產(chǎn)品特點(diǎn) ?Features: |
? ◆ 2個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站,1個(gè)樣品分析站;
? ◆ 全程自動(dòng)化智能化運(yùn)行,無需人工值守,親和的真人語音操作提示;
? ◆ BEST多路歧管模塊,英??禉z漏儀出廠檢測,保證儀器真空度和穩(wěn)定性;
? ◆ 預(yù)處理:具有“普通加熱抽真空分子擴(kuò)散模式”和“分子置換模式”兩種可選功能;
(**名稱:靜態(tài)法比表面及孔徑分析儀的凈化預(yù)處理裝置 **號(hào):ZL2011201369439)
? ◆ 貝士德**的脫氣位濾塵袋,徹底消除對儀器內(nèi)部結(jié)構(gòu)的污染
結(jié)合貝士德**的渦旋降塵原理的硬件防抽飛裝置,能夠在不降低現(xiàn)有氣體流導(dǎo)前提下實(shí)現(xiàn)粉塵過濾功能,徹底杜絕粉末樣品對儀器內(nèi)部結(jié)構(gòu)的污染,抽真空脫氣時(shí)間縮短、效果提高。
(**名稱:具有脫氣位濾塵袋裝置的靜態(tài)法物理吸附儀.**號(hào):ZL201620714986.3)
? ◆ 非阻隔式防污染裝置,徹底解決樣品污染系統(tǒng),影響儀器穩(wěn)定性的問題;
(**名稱:具有除塵防污染裝置的靜態(tài)容量法比表面及孔徑分析儀.**號(hào):ZL201320045881.X)
? ◆ 獨(dú)立P0測試站具有獨(dú)立的飽和蒸汽壓(P0)測試站,保證分壓測試的高準(zhǔn)確性。
(**名稱:靜態(tài)法比表面及孔徑分析儀的飽和蒸氣壓測試裝置.**號(hào):ZL201120136959.X)
? ◆ 飽和蒸氣壓螺旋P0管:采用螺旋狀的P0管作為飽和蒸汽壓管,與儀器主機(jī)連接,能夠更快的達(dá)到液氮溫度,使得測試的飽和蒸汽壓更接近真實(shí)值(與進(jìn)口等溫夾的效果一樣,解決了直形不銹鋼P(yáng)0管測試結(jié)果偏大2%的問題),提高測試精度。
(**名稱:飽和蒸氣壓螺旋P0管及靜態(tài)法比表面及孔徑分析儀.**號(hào):ZL201620716311.2)
? ◆ 獨(dú)立的高精度飽和蒸汽壓(P0)實(shí)時(shí)測試站;
? ◆ 智能投氣量控制,提高實(shí)驗(yàn)效率;
? ◆ 脫氣處理:2.4.8個(gè)預(yù)處理站可選,采用全自動(dòng)程序控制,定時(shí)開始、真空泵自動(dòng)啟停、程序升溫、定時(shí)結(jié)束,可實(shí)現(xiàn)無人值守測試和樣品脫氣處理。
? ◆ 智能自檢流程,智能判斷樣品管是否安裝,試管夾套是否擰緊有無漏氣;
? ◆ 自動(dòng)加蓋:儀器必須具有液氮杯自動(dòng)加蓋功能,能夠有效的減少液氮的揮發(fā),同時(shí)也可避免水蒸氣在杜瓦杯口和樣品管上冷凝結(jié)冰;
(**名稱:加蓋裝置及靜態(tài)法比表面及孔徑分析儀.**號(hào):ZL201420148358.40)
? ◆ 詳盡的儀器運(yùn)行日志顯示與記錄,可精確到秒,全程實(shí)驗(yàn)記錄可追溯;
? ◆ 超強(qiáng)的穩(wěn)定性,即使意外斷電、斷線,不會(huì)丟失當(dāng)前數(shù)據(jù),且實(shí)驗(yàn)可恢復(fù)繼續(xù)進(jìn)行;
? ◆ 液氮杯防意外"安全下降"智能控制機(jī)制,完全避免液氮杯意外下降氣體膨脹使樣品管爆裂的危險(xiǎn);
? ◆ 大容量小口徑杜瓦瓶保溫時(shí)長大于140小時(shí),連續(xù)測試96小時(shí)無需添加液氮;
? ◆ 多項(xiàng)**技術(shù)保障儀器穩(wěn)定性和準(zhǔn)確性;
? ◆ 多組分競爭吸附IAST理論模型:該理論模型可根據(jù)純組分的吸附等溫線,模擬計(jì)算得到混合組分競爭吸附等溫線,用于多組分競爭吸附的理論預(yù)測;
?
測試?yán)碚?nbsp; ?Test Theory: |
? ◆ 吸附、脫附等溫線;
? ◆ BET單點(diǎn)法,多點(diǎn)法比表面;
? ◆ 朗格繆爾(Langmuir)比表面;
? ◆ 統(tǒng)計(jì)吸附層厚度法外比表面(STSA);
? ◆ 粒度估算報(bào)告和真密度;
? ◆ BJH法吸脫附孔容孔徑分布;
? ◆ MK-plate法(平行板模型)孔容孔徑分布;
? ◆ t-plot法微孔分析;
? ◆ MP法(Brunauer) 微孔分析;
? ◆ D-R法微孔分析;
? ◆ HK法微孔分析;
? ◆ IAST理論;
測試報(bào)告 ?Testing Report: |
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BSD-PS比表面及孔徑分布,具有2個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站,1個(gè)樣品分析站。測試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1%。測試范圍:比表面0.0005m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國內(nèi)知名品牌,遠(yuǎn)銷海外,獲得多項(xiàng)國內(nèi)技術(shù)專利,技術(shù)國際領(lǐng)先。
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