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裝置概述
主要研究對象：目前材料、物理和化學(xué)研究的熱點之一的二維薄膜材料體系。
主要功能：是用來測量熱電薄膜的熱電性質(zhì)，包括電導(dǎo)和Seebeck系數(shù)。
2組成部分：主要由探針臺和控制系統(tǒng)兩部分組成。其中探針臺包括四探針、變溫臺和光學(xué)顯微鏡；控制系統(tǒng)包括控溫系統(tǒng)、電學(xué)性質(zhì)測量設(shè)備和數(shù)據(jù)采集和分析系統(tǒng)。
主要特色：可以同時測定薄膜樣品，例如單層石墨烯，的電導(dǎo)（四探針測量模式）和Seebeck系數(shù)；溫度可從4K到400K連續(xù)可調(diào)；氣氛可控。
暫無數(shù)據(jù)！
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