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            奧林巴斯近紅外顯微分光測定儀USPM-RU-W
            奧林巴斯近紅外顯微分光測定儀USPM-RU-W

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            品牌

            產(chǎn)地

            日本

            樣本

            暫無
            奧林巴斯(北京)銷售服務(wù)有限公司

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            |

            第2年

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            從380nm~1050nm的可視光至近紅外實現(xiàn)大范圍波長區(qū)域中的分光測定

            奧林巴斯的近紅外顯微分光測定儀USPM-RU-W可以高速&高精細地進行可視光區(qū)域至近紅外區(qū)域的

            大范圍波長的分光測定。由于其可以很容易地測定通常的分光光度計所不能測定的細微區(qū)域、曲面的

            反射率,因此*適用于光學元件與微小的電子部件等產(chǎn)品。

            測定反射率

            測定以物鏡聚光的Φ17~70μm的微小點的反射率。

            反射率測定光路圖

            反射率測定例:鏡片 反射率測定例:鏡片周邊部位

            測定膜厚

            活用反射率數(shù)據(jù),測定約50nm~約10μm的單層膜、多層膜的膜厚。

            膜厚測定的圖例

            測定物體顏色

            根據(jù)反射率數(shù)據(jù)顯示XY色度圖、L*a*b*色度圖及相關(guān)數(shù)值。

            物體色的測定圖例

            多樣化應(yīng)用

            通過測定球面、非球面的鏡片、濾鏡、反射鏡等光學元件的反射率,進行涂層評價、物體顏色測定、膜厚測定。

            數(shù)碼相機鏡片 /投影儀鏡片 / 眼鏡片

            適用于LED反射鏡、半導(dǎo)體基板等微小電子部件的反射率測定、膜厚測定。

            LED包裝 /半導(dǎo)體基板

            適用于平面光學元件、彩色濾鏡、光學薄膜等的反射率測定、膜厚測定、透過率測定。

            液晶彩色濾鏡 /光學薄膜

            適用于棱鏡、反射鏡等45度入射產(chǎn)生的反射率測定。

            棱鏡 /反射鏡

            備注:標配價格區(qū)間為50萬-80萬,根據(jù)選擇的配置價格可能會高出標配價格。

            -END-

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            售后服務(wù)

            10分

            易用性

            10分

            性價比

            10分
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