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產(chǎn)品特色
■HotDisk是材料熱傳導(dǎo)性能測試的高性能儀器。
■可同時(shí)檢測熱導(dǎo)系數(shù)(Thermal Conductivity)、熱擴(kuò)散(Thermal Diffusivity)、熱容(Heat Capacity) 。
■從絕緣材料到高散熱材料都可以檢測,是目前全世界應(yīng)用面及檢測應(yīng)用面*廣的熱導(dǎo)系數(shù)儀
■可依客戶需要增加各種測試模組,進(jìn)行軟體升級。
■目前Hot Disk提供五種測試模組:Standard測試模組、Thin Film測試模組、Slab測試模組、Anisotropy測試模組以及Specific Heat測試模組。
■可對導(dǎo)熱性能極低到極高的各種不同類型的之材料進(jìn)行測試。
基本規(guī)格
型號 | TPS2500 | TP1S500 | |
量測項(xiàng)目 | 可同時(shí)測得熱導(dǎo)系數(shù)(Thermal Conductivity, W/mK),熱擴(kuò)散(Thermal Diffusivity, m2/s)與熱容(Specific Heat, J/m3℃),并可由比熱量測模式求得比熱(Specific Heat Capacity, /kg℃)。 | ||
量測范圍 | 0.005 W/mK~500 W/mK | 0.01 W/mK~400 W/mK | |
模式 | 標(biāo)準(zhǔn)模式 Standard Method | 標(biāo)準(zhǔn)模式 Standard Method | |
選配模式 | *薄膜模式 (Thin Film Method) *高熱傳片狀模式 (Slab Method) *異方向性模式 (Anisotorpic Method) *比熱模式 (Cp Method) | *異方向性模式 (Anisotorpic Method) *比熱模式 (Cp Method) | |
量測溫度 | 10K~1000K(-180~700℃) | ||
精密度 | 0.2%以內(nèi) | ||
測試時(shí)間 | 1~2分鐘內(nèi)即可完成測試 | ||
樣品尺寸 | 量測局部特性:Small Sensor-半徑0.49mm 量測整體特性:Large Sensor-半徑60mm | ||
樣品種類 | 固體,液體,粉末皆可量測 A. 塊狀樣品 B. 薄膜樣品(20micrometer~600micrometer) | ||
儀器特色 | A. 采非破壞性樣品測試方法 B. 不需輸入比熱(Cp)及密度(D)即可量測熱導(dǎo)系數(shù) C. 不需裁減樣品即可依樣品大小選取適當(dāng)?shù)膫鞲衅?/p> D. 可擴(kuò)充性:可擴(kuò)充由軟件控溫、控制測試溫度及取點(diǎn)的高溫爐體及低溫系統(tǒng) |
應(yīng)用領(lǐng)域
暫無數(shù)據(jù)!