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Amptek獲得**的“ C系列” X射線窗利用氮化硅（Si3N4）和鋁涂層來將我們的硅漂移檢測(cè)器（SDD）的低能量響應(yīng)擴(kuò)展到硼（Be）。
C1 Windows：實(shí)驗(yàn)室，臺(tái)式和手持式儀器。
C2 Windows：掃描電子顯微鏡（SEM）中的真空應(yīng)用程序和EDS（EDX）。C2窗在*低能量下具有更高的效率
C2窗FASTSDD測(cè)試Be和C譜圖
C2窗與聚合物窗效率對(duì)比
FASTSDD典型分辨率
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