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紅外雙折射分布測(cè)量設(shè)備

WPA-NIR

主要特點(diǎn)

l紅外波長的雙折射/相位差面分布測(cè)量

l硫系、紅外透明樹脂等的光學(xué)畸變?cè)u(píng)估

l小型、簡単操作、高速測(cè)量

WPA-NIR能高速的測(cè)量/分析波長為850nm或940nm的雙折射分布

安裝既有的操作簡單和實(shí)用的軟件WPA-View

可以自由分析任意線上的相位差分布圖形、任意區(qū)域內(nèi)的平均值等的定量數(shù)據(jù)

可搭配流水線對(duì)應(yīng)的『外部控制選配』，也可應(yīng)用于量產(chǎn)現(xiàn)場

WPA-NIR的功能

1.高速測(cè)量面的雙折射/相位差分布

NIR波長僅需操作鼠標(biāo)數(shù)秒內(nèi)就能獲取高密度的雙折射/相位差信息

2.測(cè)量數(shù)據(jù)的保存/讀取

全部的測(cè)量結(jié)果都可以做保存/讀取。易于跟過去的測(cè)量結(jié)果做比較等

3.豐富的圖形創(chuàng)建功能

從測(cè)量后的面信息，可以自由制作線圖形和直方圖。復(fù)數(shù)的測(cè)量結(jié)果可以在一個(gè)圖形上做比較，也可以用CSV格式輸出

主要技術(shù)參數(shù)