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            PHL膜厚測試儀/橢偏儀SE-101
            PHL膜厚測試儀/橢偏儀SE-101

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            型號

            品牌

            產(chǎn)地

            日本

            樣本

            暫無
            北京歐屹科技有限公司

            會員

            |

            第2年

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            膜厚測試儀

            橢偏儀

            應(yīng)力雙折射儀,能夠快速、精準(zhǔn)測量雙折射相位差及其空間分布和方向。廣泛應(yīng)用于玻璃、晶體、聚合物薄膜、鏡片、晶片等質(zhì)量分析和控制領(lǐng)域。

            日本Photonic-lattice成立于1996年,以日本東北大學(xué)的光子晶體的研究技術(shù)為核心,成立的合資公司,尤其是其光子晶體制造技術(shù)**世界,并由此開發(fā)出的測量儀器。

            根據(jù)應(yīng)用不同,我們特別開發(fā)出5款不同的的膜厚測試儀/橢偏儀,每一款產(chǎn)品各具不同的特點(diǎn)。

            PHL緊湊型桌面式橢偏儀 SE-101

            型號

            SE-101

            重復(fù)性

            厚度0.1nm,折射率0.001

            測量速度

            0.05秒/測量點(diǎn)

            光源

            636nm 半導(dǎo)體激光器

            測量點(diǎn)

            1mm

            入射角

            70度

            測量尺寸

            4英寸,

            儀器尺寸和重量

            250x175x218.3mm/4kg

            數(shù)據(jù)接口

            千兆以太網(wǎng)(攝像機(jī)信號),RS-232C

            功率

            AC100-240V(50/60Hz)

            軟件

            SE-View

            湊型桌面式橢偏儀 SE-102

            型號

            SE-102

            重復(fù)性

            厚度0.1nm,折射率0.001

            測量速度

            0.05秒/測量點(diǎn)

            光源

            636nm 半導(dǎo)體激光器

            測量點(diǎn)

            1mm

            入射角

            70度

            測量尺寸

            4英寸,1軸自動,2軸手動

            儀器尺寸和重量

            300x235x218.3mm/4kg

            數(shù)據(jù)接口

            千兆以太網(wǎng)(攝像機(jī)信號),RS-232C

            功率

            AC100-240V(50/60Hz)

            軟件

            SE-View

            快速映射橢偏儀 ME-110

            型號

            ME-110

            重復(fù)性

            厚度0.1nm,折射率0.001

            測量速度

            每分鐘1000個點(diǎn)以上

            光源

            636nm 半導(dǎo)體激光器

            測量點(diǎn)

            0.5mm

            入射角

            70度

            測量尺寸

            6英寸

            儀器尺寸和重量

            650x650x1740mm/120kg

            數(shù)據(jù)接口

            千兆以太網(wǎng)(攝像機(jī)信號),RS-232C

            功率

            AC100-240V(50/60Hz)

            軟件

            SE-View

            型號

            ME-110

            重復(fù)性

            厚度0.1nm,折射率0.001

            測量速度

            每分鐘1000個點(diǎn)以上

            光源

            636nm 半導(dǎo)體激光器

            測量點(diǎn)

            0.0055-0.5mm

            入射角

            70度

            測量尺寸

            6英寸

            儀器尺寸和重量

            650x650x1740mm/120kg

            數(shù)據(jù)接口

            千兆以太網(wǎng)(攝像機(jī)信號),RS-232C

            功率

            AC100-240V(50/60Hz)

            軟件

            SE-View

            允許厚度分布的測量,例如,透明電極膜和取向膜與基底玻璃的透明基板

            型號

            ME-110-T

            重復(fù)性

            厚度0.1nm,折射率0.001

            測量速度

            每分鐘1000個點(diǎn)以上

            光源

            636nm 半導(dǎo)體激光器

            測量點(diǎn)

            0.5mm

            入射角

            70度

            測量尺寸

            6英寸

            儀器尺寸和重量

            650x650x1740mm/120kg

            數(shù)據(jù)接口

            千兆以太網(wǎng)(攝像機(jī)信號),RS-232C

            功率

            AC100-240V(50/60Hz)

            軟件

            SE-View

            高速,高解析度的表面分布測量

            創(chuàng)新點(diǎn)

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            10分

            售后服務(wù)

            10分

            易用性

            10分

            性價比

            10分
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