掃描型近接場光學(xué)顯微分光系統(tǒng)NFS series

▼概要

日本分光株式會(huì)社生產(chǎn)的可以分光測定的掃描型接近場光學(xué)顯微鏡NFS系列，世界一流。這臺(tái)裝置能10-100nm左右的空間分解力進(jìn)行顯微分光測量。能在微小的領(lǐng)域觀測光譜強(qiáng)度變化以及波峰變換可更好的對(duì)物質(zhì)特性描述。

◆特征

?世界**臺(tái)一體化掃描型近接場光學(xué)分光顯微鏡

?數(shù)十～百nm高空間分辨率測量顯微分光。

?使用日本分光制的探頭可準(zhǔn)確使用特定大小的近接場光。

?可同時(shí)測量樣品表面微小的凹凸形狀。和原子力顯微鏡（AFM）類似的用法。

? illumination（透過）、collection、 illumination－collection測量方式。

◆近接場光學(xué)顯微分光裝置

對(duì)于微小領(lǐng)域的表征方法有利用電子線的電子顯微鏡形態(tài)觀察、 X線微分析儀，掃描型探頭電鏡表面形狀觀察。這些分析方法可以得到高空間分辨率的畫像、但是得不到樣品表面的化學(xué)信息。另外，雖然、顯微FT/IR分光、顯微光激發(fā)光分光、顯微拉曼光等可以得到表面化學(xué)信息，但是因?yàn)榭?/span>間分辨率有限度、所得到的信息也停留在微米量級(jí)。原因是光的衍射是有限度的不能超過使用波長范圍。

◆新開發(fā)光纖制作技術(shù)

NFS系列光纖前端約為數(shù)十～百nm開口的探頭用于近接場光產(chǎn)生或者近接場光集光。日本分光的開口技術(shù)以神奈川科學(xué)技術(shù)科學(xué)院（KAST）的研究成果基礎(chǔ)上開發(fā)的、特定尺寸的開口，再現(xiàn)性好。開口的尺寸用電子顯微鏡高度的控制。

◆NFS series產(chǎn)品種類豐富

主要有以下種類。重點(diǎn)介紹近接場顯微紅外分光系統(tǒng)。別的型號(hào)詳細(xì)請(qǐng)咨詢。

?室溫型／低溫型　近接場光照射裝置（NFS-220/320）?室溫型／低溫型近接場用掃描裝置（NFS-210/310）?室溫型／低溫型　近接場蛍光／光激發(fā)光分光裝置（NFS-230/330）?近接場顯微鏡近紅外分光裝置（NFS-220FT/320FT）?近接場顯微紅外分光裝置（NFIR-200/250）?近接場納米碳素管評(píng)價(jià)裝置（NFS-230C/330C、特殊定制）?近接場時(shí)間分解分光裝置（NFS-230TR/330TR、特殊定制）

◆NFIR-200/250　近接場顯微紅外分光系統(tǒng)

近接場顯微紅外分光裝置紅外分光法代表的振動(dòng)分光法、不論有機(jī)?無機(jī)應(yīng)用于各種分析領(lǐng)域。但是，現(xiàn)有的紅外顯微分光系統(tǒng)空間分辨率受光的衍射現(xiàn)象的影響，限度為10μm左右。近接場分光法、可以超過這個(gè)衍射限度、可見光區(qū)域應(yīng)用于從亞微細(xì)米到納米規(guī)模的光分析，紅外區(qū)域由于光纖探頭吸收的原因不能進(jìn)行分光分析。紅外領(lǐng)域通過采用漫反射型近接場光學(xué)系統(tǒng)、實(shí)現(xiàn)了從近紅外到中紅外領(lǐng)域的亞微細(xì)米空間分辨率的分光測量。通過照射到探頭前端的紅外光產(chǎn)生紅外近接場光、檢測近接場光和樣品共鳴漫反射結(jié)果信號(hào)、測量紅外近接場光譜?？臻g分辨率不受紅外波長影響、由探頭前端產(chǎn)生近接場光的實(shí)際尺寸決定、大約探頭前端徑大小。因此，紅外分廣發(fā)可用于亞微細(xì)米以下領(lǐng)域測量。

▼特征和系統(tǒng)略圖

?漫反射型近接場光學(xué)裝置可除去光纖探頭吸收的影響。

?環(huán)保配置。

?NFIR-250的FT部裝有大型測量用的樣品室，可對(duì)應(yīng)一般的紅外測量。

▼NFIR-200/250規(guī)格