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            Helios DualBeam™掃描電子顯微鏡
            Helios DualBeam™掃描電子顯微鏡

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            捷克

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            暫無
            賽默飛世爾科技電子顯微鏡

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            Helios NanoLab DualBeam

            一直以來,Helios NanoLab 都綜合采用了 FEI 的**電子和離子光學(xué)系統(tǒng)、配件和軟件,能夠為尖端納米量級研究提供強(qiáng)大的解決方案。對于從事納米技術(shù)前沿研究的科學(xué)家,Helios NanoLab 能讓他們拓展研究邊界,為材料研究開辟新的天地。

            借助**價值的亞納米 SEM 成像技術(shù)、S/TEM 超薄樣本制備能力以及*精確的原型設(shè)計功能,科學(xué)家能夠?qū)?Helios NanoLab 當(dāng)作理想的研究伴侶,為未來的科技進(jìn)步開發(fā)創(chuàng)新的新材料和納米量級器件。

            Helios NanoLab 的材料科學(xué)應(yīng)用

            在材料科學(xué)領(lǐng)域,研究人員面臨的挑戰(zhàn)是持續(xù)改善目前制造的材料和設(shè)備的質(zhì)量。為了實現(xiàn)技術(shù)進(jìn)步,在納米量級了解結(jié)構(gòu)和成分細(xì)節(jié)至關(guān)重要。Helios NanoLab 設(shè)計用來以低至亞納米量級的分辨率提供多尺度、多維度洞察,讓研究人員能夠觀測樣本*微小的細(xì)節(jié)。Helios NanoLab 還可為原子分辨率 S/TEM 成像迅速制備**質(zhì)量的樣本。此外,如果研究工作包括開發(fā) MEMS 或 NEMS 器件,也可配備 Helios NanoLab 打造全功能原型。

              Helios NanoLab 的電子工業(yè)應(yīng)用

              Helios NanoLab 是一款極其靈活的平臺,既能以極高的效率制備 TEM 樣本,又能開展高性能低電壓成像以分析高級邏輯和存儲器件。Helios Nanolab 具有大型和小型樣本室兩個配置,效率極高,并且是面向?qū)嶒炇液徒a(chǎn)環(huán)境的低每樣本成本半導(dǎo)體分析工作流的關(guān)鍵組成部分。

                Helios NanoLab 的自然資源應(yīng)用

                地質(zhì)學(xué)家和礦藏工程師可以使用 Helios NanoLab 技術(shù)對鉆屑和微芯開展二維和三維巖石表征。它利用的 DualBeam 技術(shù)獨具特色,博采 FIB(聚焦離子束)銑削和 SEM(掃描電子顯微鏡)分析之長。借助自動化序列樣本銑削和成像功能,客戶可以創(chuàng)建二維序列圖像,進(jìn)而開展三維容積重建。根據(jù)這些數(shù)據(jù),客戶可以在微米至納米量級別觀測和量化孔隙網(wǎng)絡(luò)等紋理。

                Helios NanoLab 的生命科學(xué)應(yīng)用

                要想在三維背景下了解生物事件,就必須采用專用的成像解決方案,而且這些成像解決方案應(yīng)能以極高的分辨率呈現(xiàn)極小的細(xì)節(jié),從而揭示出復(fù)雜網(wǎng)絡(luò)的超微結(jié)構(gòu)和空間結(jié)構(gòu)。Helios NanoLab 具有**的 SEM 性能和可靠、精確的 FIB 切片能力,還配備了高精度壓電工作臺,堪稱小型 DualBeam 平臺的**之選。出色的成像能力,輔以透鏡內(nèi)和柱內(nèi)檢測器提供的尖端高對比度檢測技術(shù),能夠?qū)崿F(xiàn)真正**的對比度。

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                Helios DualBeam™掃描電子顯微鏡信息由賽默飛世爾科技電子顯微鏡為您提供,如您想了解更多關(guān)于Helios DualBeam™掃描電子顯微鏡報價、型號、參數(shù)等信息,歡迎來電或留言咨詢。
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