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日本樣本
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電子探針簡介:
電子探針(EPMA)是用極細(xì)的電子束對樣品表面進(jìn)行照射產(chǎn)生特征性X射線,對特征性X射線進(jìn)行分光和強(qiáng)度測定,得到微小區(qū)域的元素組成及樣品表面元素濃度分布的分析裝置。EPMA 采用波長色散型X 射線分光器(WDS),與能量色散型X 射線分光器(EDS)相比,具有高分辨率的特點(diǎn)。因此,EPMA與掃描型電子顯微鏡(SEM)配置EDS 檢測器比較,可以進(jìn)行更高精度和更高靈敏度的分析。
技術(shù)特點(diǎn):
島津電子探針EPMA-1720系列
優(yōu)勢在于傳承52.5°的高X射線取出角技術(shù),可以進(jìn)行高靈敏度的X射線測定。
高速穩(wěn)定驅(qū)動的樣品臺,可以高精度設(shè)定分析位置和分析區(qū)域。
配備各種自動功能和聯(lián)動功能,電子束的設(shè)定簡單易行。
集多年分析經(jīng)驗(yàn)于一體的控制?分析軟件,實(shí)現(xiàn)了從數(shù)據(jù)采集到數(shù)據(jù)解析及報(bào)告制作的清晰易懂、操作便捷的良好操作環(huán)境。
對于初學(xué)者,裝備了從SEM 觀察到定性分析?成圖分析的簡易可行的簡單模式。
數(shù)據(jù)瀏覽程序可以方便地進(jìn)行數(shù)據(jù)的批次管理。
暫無數(shù)據(jù)!