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            多孔材料表面Zeta電位分析儀
            多孔材料表面Zeta電位分析儀

            參考價格

            100-150萬元

            型號

            aps-100

            品牌

            美國MAS

            產地

            美國

            樣本

            暫無
            上海胤煌科技有限公司-傘棚燈、不溶性微粒

            金牌會員

            |

            第6年

            |

            生產商

            工商已核實

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            核心參數
            • 誤差率:

              樣品固體%:0.1-60%體積比
            • 分辨率:

              大于0.1nm
            • 重現性:

              <1%
            • 儀器原理:

              其他
            • 分散方式:

              自動攪拌檢測
            • 測量時間:

              1-10min
            • 測量范圍:

              5nm-1000μm
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            多孔材料表面Zeta電位分析儀

            原理簡介:

            APS 從聲衰減光譜測量產生PSD數據,不需要稀釋樣品。APS還測量粒度范圍的10納米到1000微米的樣品的聲音速度譜、pH、電導率和溫度。

            當聲音穿越泥漿或膠體時,是衰減的。衰減的程度與粒度分布有關。APS可在1 - 100 MHz的頻率范圍內非常準確地測量聲音衰減。因為聲音穿過所有的物質媒介,APS聲音衰減的測量可以在高濃度和/或不透明的樣品中進行。粒子沉降并不是一個問題,因為在測量時樣品可以被攪拌或泵送。APS分析不受樣品的Zeta電勢水平的約束。APS很容易分析零粒子和高電荷。

            APS取樣分析是快速和容易的,無需稀釋樣品。稀釋樣品費時,容易出錯,并可能改變樣品的實際PSD。簡單地倒,或者連續(xù)泵送樣品進入到APS的樣品室,APS的直觀的軟件在幾分鐘內做玩余下的工作。

            計算詳細PSD數據的技術,不需要假設PSD形狀。其他類型的儀器,例如光散射,意味著軟件或操作者假設或猜測PSD是單峰、雙峰、對數正態(tài)或高斯分布的。這種假設可能導致數據不可靠。

            專門的APS硬件設計簡化了操作,同時減少維護。這個設計適合研發(fā)以及重復質量控制測量。APS也適合過程在線操作。

            多孔材料表面Zeta電位分析儀

            主要用途:

            1)半導體化學機械拋光(CMP)料漿;

            2)陶瓷;

            3)油墨;

            4)乳劑穩(wěn)定性;

            5)藥品;

            6)生物膠體;

            7)熒光粉;

            8)有機和無機顏料如Ti02和炭黑;

            9)催化劑;

            10)礦物;

            11)聚合物乳液;

            12)水和非水分散體系;

            技術參數:

            1)完整的粒度分布,而不是簡單的平均值和標準偏差大小的數據;

            2)不需要稀釋樣品;

            3)不需要假設PSD形狀;

            4)粒度范圍:0.005-100微米;

            5)無電解質干涉;

            6)可測量水的/非水的/不透明的/粘性的樣品;

            7)可測量縱向粘度,60%固體,PH值,電導率,溫度,聲衰減和聲速度譜;

            8)具有自動滴定選項;

            9)專門技術:1-100MHz聲衰減譜;

            10)溶劑:水/非水;

            11)樣品固體:60%;

            12)樣品體積:標準是120ml,50ml小體積可用;





            創(chuàng)新點

            APS 從聲衰減光譜測量產生PSD數據,不需要稀釋樣品。APS還測量粒度范圍的10納米到100微米的樣品的聲音速度譜、pH、電導率和溫度。

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            產品質量

            10分

            售后服務

            10分

            易用性

            10分

            性價比

            10分
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            • 多孔材料表面Zeta電位分析儀的工作原理介紹?
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            多孔材料表面Zeta電位分析儀信息由上海胤煌科技有限公司-傘棚燈、不溶性微粒為您提供,如您想了解更多關于多孔材料表面Zeta電位分析儀報價、型號、參數等信息,歡迎來電或留言咨詢。
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