參考價格
面議型號
LCF series品牌
大塚電子產(chǎn)地
江蘇樣本
暫無看了彩色濾光片分光特性測量裝置 LCF series的用戶又看了
虛擬號將在 180 秒后失效
使用微信掃碼撥號
產(chǎn)品信息
特點
以透過光譜測量、色測量為代表,通過濃度測量、膜厚測量、反射光譜測量等,可對應(yīng)彩色濾光片制造工程中的所有檢查的裝置
可用于彩色濾光片的光學(xué)特性或玻璃基板上膜的薄膜解析等各類評價
通過自動對焦功能和自動繪素位置相結(jié)合,測量精度高,登陸recipe實現(xiàn)完全自動檢查
測量項目
彩色濾光片評價 | 色測量(透過光譜測量) 色度(XYZ,xy,Lab,L*a*b*,u'v',u*v*) 色差,白平衡 |
---|---|
反射率測量 * | |
濃度(OD)測量 * | |
畫素幅測量 * | |
AF(自動對焦),結(jié)合自動繪素 * | |
膜厚評價 | 膜厚測量 |
膜物性解析(n:折射率,k:消減系數(shù)) |
測量對象
R, G, B, ITO, PI, PR, OC, BM
仕樣
型號 | LCF series |
---|---|
樣品尺寸 | 50mm×50mm ~* |
檢出器 | 分光光度計 ( MCPD檢出器 ),PMT (option) |
圖像處理 | CCD相機及monitor 自動對焦?結(jié)合自動繪畫素機構(gòu) |
Stage及測量部支架 | X-Y-Zstage自動及手動(電動方式) |
* 也可用于大型玻璃基板(3000mm×3000mm以上)
測量例
彩色濾光片のR、G、B測量
暫無數(shù)據(jù)!
顯微分光膜厚儀“OPTM”O(jiān)PTM系列顯微分光膜厚儀是一款可替代橢偏儀,測試膜厚、折射率n、消光系數(shù)k、絕對反射率的新型高精度、高性價比的分光膜厚儀。適用于各種可透光膜層的測試,并有獨家專利可針對透明
Zeta電位?粒徑?分子量測量系統(tǒng)ELSZneoELSZneo是ELSZseries的最高級機型,除了在稀薄溶液~濃厚溶液中進行zeta電位(ZetaPotential,ζ-電位)和粒徑測定之外,還能
大塚電子利用光技術(shù),開發(fā)出各種分析測量裝置,給客戶提供尖端測量技術(shù)支持。以測量技術(shù)、應(yīng)用示例等重點介紹為主,定期舉辦Webinar(網(wǎng)絡(luò)研討會)。