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特長
非接觸式測量不透明、粗糙，易變形的樣品
反復(fù)性?再現(xiàn)性高
無標(biāo)準(zhǔn)曲線也可知道**厚度
測量徑很小，不受斑點(diǎn)的影響
樣品位置無需調(diào)整，放進(jìn)去即可。
穩(wěn)定性高，不會產(chǎn)生誤差，所以誰都能操作。
光學(xué)方式原理所以安全
式樣
構(gòu)成圖?原理
構(gòu)成圖
任何人都會測量
原理
將光分別照射樣品上下部
測量距離基準(zhǔn)面的距離。
d=dall-(d1+d2)
比較測量方法
樣品例子和測量方法的比較
| 非接觸光學(xué)膜厚儀 | 接觸式膜厚儀 | X線式膜厚儀 | 変位計 | ||
|---|---|---|---|---|---|
| 樣品 | 凝膠片 | ○ | × | ○ | ○ |
| 不織布 | ○ | × | ○ | × | |
| 金屬板 | ○ | ○ | ○ | ○ | |
| 樹脂 | ○ | ○ | ○ | ○ | |
| 多孔質(zhì) | ○ | △ | ○ | × | |
| 陶瓷 | ○ | ○ | ○ | × | |
| 紙?木 | ○ | ○ | ○ | × | |
| 測量 條 件 | 測量時間 | ○ 高速 | ○ | ○ | ○ |
| 非接觸測量 | ○ 非接觸 | × | ○ | ○ | |
| 前處理 | ○ 不要 | ○ | × | ○ | |
測量案例
暫無數(shù)據(jù)！
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大塚電子利用光技術(shù)，開發(fā)出各種分析測量裝置，給客戶提供尖端測量技術(shù)支持。以測量技術(shù)、應(yīng)用示例等重點(diǎn)介紹為主，定期舉辦Webinar(網(wǎng)絡(luò)研討會)。
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