界面層對高強(qiáng)度聚焦超聲所致焦斑的影響

編號：NMJS02998

篇名：界面層對高強(qiáng)度聚焦超聲所致焦斑的影響

作者：李全義； 盧濤； 秦艷； 李發(fā)琪；

關(guān)鍵詞：納米磁性顆粒； 界面層； 焦斑； 高強(qiáng)度聚焦超聲(HIFU)；

機(jī)構(gòu)： 深圳武警邊防醫(yī)院； 重慶醫(yī)科大學(xué)生物醫(yī)學(xué)工程系； 重慶醫(yī)科大學(xué)醫(yī)學(xué)超聲工程研究所； 重慶市-科技部共建醫(yī)學(xué)超聲工程重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室；

摘要： 用納米鐵磁性顆粒膠合體制作界面層,用同一劑量高強(qiáng)度聚焦超聲(HIFU)在該界面層下方不同深度定點(diǎn)輻照。結(jié)果顯示:焦點(diǎn)上緣與聲學(xué)界面重合時(shí),HIFU所致焦斑/損傷點(diǎn)(lesion)的體積增大,說明聲學(xué)界面能夠提高治療效率;當(dāng)焦點(diǎn)距離界面層10mm時(shí),焦點(diǎn)處HIFU所致焦斑/損傷點(diǎn)的大小和形態(tài)與對照組相似,而界面處出現(xiàn)另一較大的損傷點(diǎn),此時(shí)界面對HIFU治療的的安全性產(chǎn)生重大的影響;當(dāng)焦點(diǎn)距離聲波界面30mm時(shí),焦點(diǎn)處HIFU所致焦斑/損傷點(diǎn)的大小和形態(tài)與對照組相似。隨著界面層厚度的減小,治療安全區(qū)域不斷擴(kuò)大,增效作用降低。