碳納米管熔接金電極的分子動(dòng)力學(xué)模擬

編號(hào)：NMJS02568

篇名：碳納米管熔接金電極的分子動(dòng)力學(xué)模擬

作者：左學(xué)云； 李中秋； 王偉； 孟利軍； 張凱旺； 鐘建新；

關(guān)鍵詞：碳納米管； 金電極； 分子動(dòng)力學(xué)模擬；

機(jī)構(gòu)： 湘潭大學(xué)材料與光電物理學(xué)院；

摘要： 利用分子動(dòng)力學(xué)模擬方法,研究了單壁碳納米管與Au電極的高溫熔接.模擬結(jié)果表明,用端口吸附了Au團(tuán)簇的碳納米管在高溫下能很好地與Au電極熔接.首先將Au團(tuán)簇放置于碳納米管開(kāi)口處進(jìn)行高溫退火,退火溫度在1100K左右,Au團(tuán)簇部分Au原子進(jìn)入碳納米管管內(nèi),吸入碳納米管中的Au原子形成殼層螺旋結(jié)構(gòu)的Au納米線,管外Au團(tuán)簇呈無(wú)定形結(jié)構(gòu).然后將吸附了Au團(tuán)簇的碳納米管與Au電極進(jìn)行熔接,高溫退火后,碳納米管與Au電極表面之間形成了穩(wěn)固的熔接,熔接最佳溫度在800K左右.