高角環(huán)形暗場成像方法測定負(fù)載型納米貴金屬催化劑的粒徑

編號：NMJS02547

篇名：高角環(huán)形暗場成像方法測定負(fù)載型納米貴金屬催化劑的粒徑

作者：齊笑迎； 賀蒙；

關(guān)鍵詞：高角環(huán)形暗場像； 透射電子顯微學(xué)； 貴金屬催化劑；

機(jī)構(gòu)： 國家納米科學(xué)中心；

摘要： 高角環(huán)形暗場(HAADF)像的襯度與樣品中平均原子序數(shù)的平方成正比,并且具有原子尺度的分辨率,因此可以有效地區(qū)分貴金屬顆粒和催化劑載體,非常適于測量負(fù)載型納米貴金屬催化劑中活性中心顆粒的粒徑。本文以Pd/ZnO催化劑為例,介紹利用HAADF成像法測定負(fù)載型納米貴金屬催化劑中貴金屬粒徑的方法。