NiO對Sm2Zr2O7光子導(dǎo)熱率影響的研究

編號：FTJS02758

篇名：NiO對Sm2Zr2O7光子導(dǎo)熱率影響的研究

作者：李濤； 朱時珍； 徐強(qiáng)； 孫帥； 馮增國；

關(guān)鍵詞：光子導(dǎo)熱； Sm2Zr2O7-NiO復(fù)合材料； NiO薄膜； 遮光特性；

機(jī)構(gòu)： 北京理工大學(xué)；

摘要： 采用共沉淀法制備Sm2Zr2O7粉體,通過無壓燒結(jié)的方法制備Sm2Zr2O7及Sm2Zr2O7-NiO復(fù)合材料塊體,利用磁控濺射法在純Sm2Zr2O7塊體表面制備不同厚度的NiO薄膜。對復(fù)合材料以及NiO薄膜的相結(jié)構(gòu)及微觀形貌進(jìn)行分析,并對試樣的熱導(dǎo)率進(jìn)行測試。結(jié)果表明,雖然NiO本身較高的熱導(dǎo)率提高了整個材料體系的熱導(dǎo)率,高溫下熱導(dǎo)率回升現(xiàn)象在一定程度上有所減弱。表面有NiO薄膜的Sm2Zr2O7試樣的熱導(dǎo)率普遍低于Sm2Zr2O7-NiO復(fù)合材料試樣,并且熱導(dǎo)率隨著NiO薄膜厚度的增大先降低后上升,熱導(dǎo)率回升有所緩解。