Al/ZnO/Al薄膜的結構與磁性分析

編號：NMJS02432

篇名：Al/ZnO/Al薄膜的結構與磁性分析

作者：豈云開； 顧建軍； 劉力虎； 張海峰； 徐芹； 孫會元；

關鍵詞：Al/ZnO/Al薄膜； 鐵磁性； 磁性表征；

機構： 河北師范大學物理科學與信息工程學院； 河北省新型薄膜材料重點實驗室； 河北民族師范學院物理系；

摘要： 采用直流磁控濺射的方法制備了Al/ZnO/Al納米薄膜,并對薄膜分別在真空及空氣中進行退火處理.利用X射線衍射儀(XRD)和物理性能測量儀(PPMS)分別對薄膜樣品的結構和磁性進行了表征.XRD分析表明,不同的退火氛圍對薄膜的微結構有著很大的影響.采用了一種新的修正方法對磁測量結果進行修正,計算了基底擬合誤差的最大值,并對修正后樣品的磁性進行了分析.結果顯示,室溫鐵磁性可能與Al和ZnO基體之間發(fā)生的電荷轉移以及在不同退火氛圍下Al在ZnO晶格中的地位變化有關.