利用下端腐蝕法制備納米級STM探針

編號：NMJS02082

篇名：利用下端腐蝕法制備納米級STM探針

作者：崔慶國； 張露； 謝佳樂； 楊秀凡； 王俊忠；

關(guān)鍵詞：掃描隧道顯微鏡； 電化學腐蝕； 液膜法； 自動切斷電路； STM探針制備；

機構(gòu)： 西南大學物理科學與技術(shù)學院；

摘要： 在深入分析電化學腐蝕原理的基礎(chǔ)上,發(fā)現(xiàn)了一種提高針尖的尖銳程度的新方法,即:利用下端腐蝕方法得到了比傳統(tǒng)的上端腐蝕方法更尖銳的針尖.通過對腐蝕電壓、腐蝕溶液濃度、切斷時間的研究和分析,總結(jié)出下端腐蝕法制備納米級STM探針的最佳綜合條件;并通過對前人方案的修改和完善,研制了一套自動控制切斷電路裝置,該電路裝置可以任意設(shè)置切斷條件,以此得到不同粗細的針尖;最后將據(jù)此制作的納米級針尖成功地應用于Unisoku-STM儀器的掃描,得到了清晰、穩(wěn)定的原子級分辨Bi(0001)圖像.